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四川物科光學(xué)精密機(jī)械有限公司
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更新時間:2021-11-23 14:40:19瀏覽次數(shù):503次
聯(lián)系我時,請告知來自 智慧城市網(wǎng)M-Z光學(xué)干涉儀通過比較被測物和參考物的相位(表現(xiàn)為條紋的變化),從而實(shí)現(xiàn)被測物的物理量的測量。
產(chǎn)品介紹
M-Z光學(xué)干涉儀產(chǎn)品說明:
馬赫-曾德干涉儀屬于一種等光程比較干涉。通過比較被測物和參考物的相位(表現(xiàn)為條紋的變化),從而實(shí)現(xiàn)被測物的物理量的測量。馬赫-曾德干涉儀通常用于測量透明介質(zhì)折射率的微小變化,可用于氣體、液體、透明固體、沖擊波及熱傳導(dǎo)等方面的研究。
M-Z光學(xué)干涉儀技術(shù)參數(shù):
參數(shù) | 大值 | 小值 | 備注 |
視場 | Φ500mm | Φ50mm | |
干涉條紋間距 | 無窮大 | 0.1mm | |
圖像分析軟件 | 滿足干涉條紋背景濾波、二值化、細(xì)化與修像、標(biāo)記、采樣讀數(shù)、物理參數(shù)計(jì)算讀取等功能 | ||
成像傳感器 | 數(shù)碼單反相機(jī)、高速相機(jī)、記錄干板 | ||
光源 | 532nm激光光源、632.8nm激光光源 | ||
其他 | 系統(tǒng)采用有效的減振方式 |
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