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島津 紫外可見分光光度計SolidSpec-3700/3700DUV

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更新時間:2023-04-04 10:37:12瀏覽次數:371次

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產品簡介

摘要一款高靈敏度分光光度計,可進行深紫外區檢測,具備大樣品室,可滿足光學、半導體及FPD在以下方面的檢測需求

詳細介紹

摘要

一款高靈敏度分光光度計,可進行深紫外區檢測,具備大樣品室,可滿足光學、半導體及FPD在以下方面的檢測需求。

產品介紹

適用于光學、半導體及FPD應用—島津UV-VIS-NIR分光光度計


是一款高靈敏度分光光度計,可進行深紫外區檢測,具備大樣品室,可滿足光學、半導體及FPD在以下方面的檢測需求。


FPD:

材料評估中NIR和大樣品的高靈敏度測定。


半導體:

短波長激光和12英寸晶片整體表面的深紫外區測定。


光通信: 

減反射膜NIR高靈敏度測定。


光學:

從DUV到NIR再到大樣品的高靈敏度分析。


SolidSpec-3700/3700DUV特點


高靈敏度

SolidSpec-3700和3700DUV是較早一臺使用3個檢測器的分光光度計:光電倍增管(PMT)探測器檢測紫外區和可見光區,近紅外區使用InGaAs 和 PbS檢測器。InGaAs 和 PbS檢測器的使用使得近紅外區域的靈敏度顯著增強。


深紫外區檢測

SolidSpec-3700DUV具有檢測深紫外區的能力,可測定至165nm或175nm的積分球。此檢測是用氮氣吹掃光室和樣品室進行的。注: 165nm是SolidSpec-3700DUV使用直接受光單元DDU-DUV測定)的較短波長。


大樣品室

大樣品室(900W x 700D x 350H mm) 可在不損傷大樣品的前提下進行檢測。其垂直光路可直接測量大樣品同時保持它們的水平狀態。使用自動X-Y樣品臺(選配)測定樣品的尺寸是12英寸或310×310mm。


Optional Accessories選配組件


Direct Detection Unit DDU/DDU-DUV (for liquid/solid transmission measurements)直接受光單元DDU/DDU-DUV對于液、固樣品透過率測定

自動X-Y樣品臺(自動測量)

大型鏡面反射附件

氮氣流量裝置

鏡面反射附件(5°12°30°45°)

積分球刪除樣品盤


一體軟件


SolidSpec-3700/3700DUV的UVProbe軟件包括光譜模塊,光度模塊,動力學及報告模塊等功能。多重的可追蹤性以確保刪除數據的可靠性。

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