氟化物激光氣體分析儀

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更新時間：2022-04-07 10:49:14瀏覽次數：311次

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產品簡介

一、產品原理LV-HF1832激光氣體分析儀基于可調諧半導體激光吸收光譜（TDLAS）技術原理進行測量，獲取待測氣體特征吸收的光譜譜線

詳細介紹

一、產品原理

LV-HF1832激光氣體分析儀基于可調諧半導體激光吸收光譜（TDLAS）技術原理進行測量，獲取待測氣體特征吸收的光譜譜線。半導體激光器發射出特定波長的激光束（僅能被被測氣體吸收），穿過被測氣體時，激光強度的衰減與被測氣體的濃度成一定的函數關系，從而進行的定量分析。

可調諧半導體激光光譜吸收技術（TDLAS）是利用激光波長的可調諧性，激光的發射波長隨著工作溫度和電流的變化而改變。通過對電流的周期性調制，可以使激光波長在小范圍內周期性變化，在每個周期內可以獲得被測氣體的“單線吸收譜線"數據和背景氣體、粉塵等干擾因素的譜線數據。在氣體檢測與濃度分析中，為了提高探測靈敏度，一般會根據現場工況選擇合適的吸收譜線和合適的激光器調制參數。

二、技術優勢

LV-HF1832 激光氣體分析儀可以直接安裝在過程氣體管道中，無需復雜的采樣和預處理系統，結構簡單、無運動部件。儀器采用 OLED 屏幕顯示，低功耗、寬視角、*的低溫性能，-40℃可正常顯示。按鍵操作采用高靈敏度的霍爾按鍵，可以方便快捷的響應磁筆操作。此外，LV-HF1832 產品還具有以下特點。

不受背景氣體干擾影響

采用 TDLAS 技術使用的半導體激光的譜寬小于 0.0001nm，約為紅外光源譜寬的 1/10⁶，遠小于被測氣體吸收譜線的譜寬。其頻率調制掃描范圍也僅包含被測氣體單吸收譜線(半導體激光吸收光譜技術也因此被稱為單線光譜技術)，因此成功消除了背景氣體交叉干擾影響，激光“單線光譜"示意圖如下圖所示。

不受粉塵和視窗污染干擾

半導體激光的波長可通過調制工作電流而被掃描，使激光波長既掃描過有氣體吸收的區域，也掃描沒有氣體吸收的區域。當波長位于吸收區域時可測得包含氣體、粉塵和視窗的總透光率 T₁，當波長位于無氣體吸收區域時可以測得粉塵和視窗透光率 T₂，從而可以準確獲得被測氣體的透光率 T_g=T₁/T₂。TDLAS 技術通過激光波長掃描技術修正了粉塵和視窗污染對測量的影響。

被測氣體溫度、壓力自動補償

被測氣體的溫度和壓力變化會導致譜線強度和展寬發生變化，如果未對溫度或壓力信號修正就會影響測量結果的準確性。而 TDLAS 技術是對被測氣體單一吸收譜線進行分析，因此可較容易地對溫度、壓力效應進行修正。為此儀器內置了溫度和壓力自動修正功能，能根據實際測量得到的被測氣體溫度和壓力對氣體成分測量值進行自動修正，從而可實現的在線氣體分析。

LV-HF1832 激光氣體分析儀無需采樣系統，也大大減少了系統的維護工作量。激光氣體分析儀的漂移小、穩定性好，一般零漂和量漂滿足≤±1%F.S./半年。儀器標定周期長，減少了儀器校準的工作量。

三、產品指標

測量數據
測量原理	TDLAS（可調諧半導體激光吸收光譜）
光源	半導體激光器（進口）
技術指標	光通道長度	≤20m
	響應時間	≤1s
	線性誤差	≤±1%F.S.	常規量程
	重復性	≤1%
	零點漂移	≤±1% F.S./半年
	量程漂移	≤±1% F.S./半年
	維護周期	≤2 次/年，清潔光學窗片
	標定周期	≤2 次/年
	防爆標志	ExdIICT6 Gb
	防護等級	IP66
接口信號	模擬量輸出	2 路 4-20mA 輸出（隔離、負載 750?）
	模擬量輸入	2 路 4-20mA 輸入（溫度、壓力補償）
	數字輸出	RS485/RS232/GPRS
	繼電器輸出	3 路輸出（24V，1A）
應用數據
工況數據	樣氣溫度	可調整，例 0℃~500℃
	樣氣壓力	可調整，例 0.7bar~2bar
	水汽含量	無冷凝水
	粉塵含量	≤1g/m³ 或≤30g/m³
	環境溫度	-20℃~60℃
	環境濕度	≤90% RH
儀器數據
主機尺寸	發射單元（D×H）	Φ170mm×198mm
	接收單元（D×H）	Φ170mm×215mm
	接線盒（L×W×H）	264mm×259mm×202mm
吹掃單元	尺寸（L×W×H）	422mm×168mm×303mm
	壓力范圍	0.3MPa~0.8MPa
	流量范圍	0L/h~4300L/h
	吹掃氣口規格	Φ8mm
焊接法蘭規格	DN50 PN1.6MPa
供電電源	24VDC 或 100~240VAC；≤20W
重量	主機	<30kg
	法蘭（含根部閥）	≤35kg（常規版本）
校準信息	校準方式	離線校準
	校準氣體室	長度 0.5m，特殊要求可定制