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北京北信科遠儀器有限責任公司
雙電四探針方阻電阻率測試儀 粉末電導率測試儀 四探針方阻電阻率測試儀雙電測數字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀 器設計符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換,進行兩次電測量,對數據進行雙電測分析,自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響,它與單電測直線或方形四探針相比,大大提高精確度,特
雙電四探針方阻電阻率測試儀 粉末電導率測試儀 四探針方阻電阻率測試儀
型號:BXA55
BXA55雙電四探針方阻電阻率測試儀:
本儀器采用四探針雙電測量方法,適用于生產企業、高等院校、科研部門,是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示,無需人工計算,并帶有溫度補償功能,電阻率單位自動選擇,儀器自動測量并根據測試結果自動轉換量程,無需人工多次和重復設置。采用高精度AD芯片控制,恒流輸出,結構合理、質量輕便,運輸安全、使用方便;選配:配備軟件可以由電腦操控,并保存和打印數據,自動生成報表;本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時顯示液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導率,配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據產品及測試項目要求選購.
BXA55雙電四探針方阻電阻率測試儀::
雙電四探針方阻電阻率測試儀 粉末電導率測試儀 四探針方阻電阻率測試儀
雙電測數字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀
器設計符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換,進行兩次電測量,對數據進行雙電測分析,自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響,它與單電測直線或方形四探針相比,大大提高精確度,特別是適用于斜置式四探針對于微區的測試。
雙電四探針方阻電阻率測試儀 粉末電導率測試儀 四探針方阻電阻率測試儀
規格型號 | BXA55 |
1.方塊電阻范圍 | 10-2~2×105Ω/□ |
2.電阻率范圍 | 10-3~2×106-cm |
3.測試電流范圍 | 0.1μA,1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100mA |
4.電流精度 | ±0.3%讀數 |
5.電阻精度 | ≤0.5% |
6.顯示讀數 | 大屏液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導率 |
7.測試方式 | 雙電測量 |
8.工作電源 | 輸入: AC 220V±10% ,50Hz 功耗:<30W |
9.整機不確定性誤差 | ≤3%(標準樣片結果) |
10.選購功能 | 選購1.pc軟件; 選購2.方形探頭; 選購3.直線形探頭; 選購4.測試平臺 |
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