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更新時(shí)間:2022-05-05 12:42:48瀏覽次數(shù):217次
聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來自 智慧城市網(wǎng)RTS-1345型全自動(dòng)四探針測(cè)試系統(tǒng)可對(duì)樣品進(jìn)行單點(diǎn)、五點(diǎn)、九點(diǎn)、多點(diǎn)、直徑掃描、面掃描等模式的全自動(dòng)測(cè)試;屏蔽測(cè)試,*消除光線對(duì)樣品測(cè)試的影響,保證測(cè)量的準(zhǔn)確性;吸附測(cè)試,*消除全自動(dòng)測(cè)試過程中樣品移動(dòng)對(duì)測(cè)試的影響;可不連接電腦使用進(jìn)行單點(diǎn)、中心五點(diǎn)、邊緣五點(diǎn)測(cè)試并把測(cè)試結(jié)果同時(shí)顯示于顯示屏;該儀器運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合全自動(dòng)測(cè)量設(shè)備
RTS-1345型全自動(dòng)四探針測(cè)試系統(tǒng)
可對(duì)樣品進(jìn)行單點(diǎn)、五點(diǎn)、九點(diǎn)、多點(diǎn)、直徑掃描、面掃描等模式的全自動(dòng)測(cè)試;
屏蔽測(cè)試,*消除光線對(duì)樣品測(cè)試的影響,保證測(cè)量的準(zhǔn)確性;
吸附測(cè)試,*消除全自動(dòng)測(cè)試過程中樣品移動(dòng)對(duì)測(cè)試的影響;
可不連接電腦使用進(jìn)行單點(diǎn)、中心五點(diǎn)、邊緣五點(diǎn)測(cè)試并把測(cè)試結(jié)果同時(shí)顯示于顯示屏;
該儀器運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合全自動(dòng)測(cè)量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的,于測(cè)試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的儀器.
儀器由主機(jī)、測(cè)試臺(tái)、四探針探頭、真空泵、屏蔽罩、計(jì)算機(jī)等部分組成,測(cè)量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示,亦可由計(jì)算機(jī)控制進(jìn)行全自動(dòng)測(cè)試,然后把測(cè)試數(shù)據(jù)采集到計(jì)算機(jī)中加以分析,以表格、圖形方式統(tǒng)計(jì)分析顯示測(cè)試結(jié)果
RTS-1345型四探針軟件測(cè)試系統(tǒng)是一個(gè)運(yùn)行在計(jì)算機(jī)上擁有友好測(cè)試界面的用戶程序,通過此測(cè)試程序輔助使用戶簡便地進(jìn)行各項(xiàng)測(cè)試及獲得測(cè)試數(shù)據(jù)并對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析。
測(cè)試程序控制四探針測(cè)試儀進(jìn)行測(cè)量并采集測(cè)試數(shù)據(jù),把采集到的數(shù)據(jù)在計(jì)算機(jī)中加以分析,然后把測(cè)試數(shù)據(jù)以表格,圖形直觀地記錄、顯示出來。用戶可對(duì)采集到的數(shù)據(jù)在電腦中保存或者打印以備日后參考和查看,還可以把采集到的數(shù)據(jù)輸出到Excel中,讓用戶對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行各種數(shù)據(jù)分析
RTS-1345型全自動(dòng)四探針測(cè)試系統(tǒng)測(cè)量范圍
電阻率:0.0001~2000Ω.cm(可擴(kuò)展);
方塊電阻:0.001~20000Ω/□(可擴(kuò)展);
電導(dǎo)率:0.0005~10000 s/cm;
電阻:0.0001~2000Ω.cm;
可測(cè)晶片直徑Φ=200mm;
恒流源電流量程分為0.1mA、1mA、10mA、100mA四檔,各檔電流連續(xù)可調(diào)
數(shù)字電壓表量程及表示形式:000.00~199.99mV;
分辨力:10μV;
輸入阻抗:>1000MΩ;
精度:±0.1% ;
顯示:四位半紅色發(fā)光管數(shù)字顯示;極性、超量程自動(dòng)顯示;
四探針探頭基本指標(biāo)
間距:1±0.01mm;
針間絕緣電阻:≥1000MΩ;
機(jī)械游移率:≤0.3%;
探針:碳化鎢或高速鋼Ф0.5mm;
探針壓力:5~16 牛頓(總力);
四探針探頭應(yīng)用參數(shù)(見探頭附帶的合格證)
模擬電阻測(cè)量相對(duì)誤差
( 按JJG508-87進(jìn)行) 0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω小于等于0.3%±1字
整機(jī)測(cè)量大相對(duì)誤差(用硅標(biāo)樣片:0.01-180Ω.cm測(cè)試)≤±5%
整機(jī)測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)不確定度≤5%
測(cè)試模式連接電腦使用可對(duì)樣品進(jìn)行單點(diǎn)、五點(diǎn)、九點(diǎn)、多點(diǎn)、直徑掃描、面掃描等模式的全自動(dòng)測(cè)試,不連接電腦情況下可進(jìn)行單點(diǎn)、中心五點(diǎn)、邊緣五點(diǎn)測(cè)試并把測(cè)試結(jié)果同時(shí)顯示于顯示屏。
消除測(cè)試過程中影響因素屏蔽和吸附測(cè)試,*消除光線和全自動(dòng)測(cè)試過程中樣品移動(dòng)對(duì)樣品測(cè)試的影響,保證測(cè)量的準(zhǔn)確性。
標(biāo)準(zhǔn)使用環(huán)境
溫度:23±2℃;
相對(duì)濕度:≤65%;
無高頻干擾;
無強(qiáng)光直射;
PN-30型導(dǎo)電類型鑒別儀
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