GJ03-802光子相關納米粒度儀是國家科技型中小企業技術創新基金項目成果（立項代碼：10C26213704395），也是款采用動態光散射原理的納米粒度儀。其測量原理建立在分散在液體顆粒的布朗運動基礎之上，顆粒越小，運動速度越快，顆粒越大，運動速度越慢。它采用HAMAMATSU高性能光電倍增管和我公司自主研制的高速數字相關器作為核心器件，通過測試某一角度的散射光的變化并求出自相關函數（即擴散

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GJ03-802光子相關納米粒度儀是國家科技型中小企業技術創新基金項目成果（立項代碼：10C），也是款采用動態光散射原理的納米粒度儀。其測量原理建立在分散在液體顆粒的布朗運動基礎之上，顆粒越小，運動速度越快，顆粒越大，運動速度越慢。它采用HAMAMATSU高性能光電倍增管和我公司自主研制的高速數字相關器作為核心器件，通過測試某一角度的散射光的變化并求出自相關函數（即擴散系數），根據Stokes－Einstein方程計算出顆粒粒徑及分布。它具有快速、高分辨率、重復及準確等特點，同時還具有不破壞、不干擾納米顆粒體系原有狀態的優點，是納米顆粒粒度測試的*產品。

光子相關納米粒度儀主要性能特點

*的測試原理該儀器采用動態光散射原理，其測試方法具有不破壞、不干擾納米顆粒體系原有狀態的特點，從而保證了測試結果的真實性和有效性；

高靈敏度與信噪比 核心部件采用我公司自主研制CR256數字相關器，它實時完成動態散射光強的采集和自相關函數運算，從而有效地反映不同大小顆粒的動態光散射信息，為測試結果的準確度奠定基礎；

穩定的光路系統 采用光纖技術搭建而成的光路系統，使光子相關譜探測系統不僅體積小，而且具有很強的抗力，從而保證了測試的穩定性；

高精度恒溫控制系統 采用半導體溫控技術，溫控精度高達±0.2℃，使樣品在整個測試過程中始終處于恒溫狀態，避免溫度變化而引起液體黏度及布朗運動速度變化導致的測試偏差，保證測試結果準確度及穩定性。

技術參數

規格型號		GJ03-802
執行標準		GB/T 19627-2005/ISO 13321：1996 GB/T 29022-2012/ISO 22412：2008
測試范圍		1 ~ 10000nm（與樣品有關）
準確度		< 1%（標準樣品平均粒徑）
重復性		< 1%（標準樣品平均粒徑）
測試濃度		0.1mg/ml ~ 100mg/ml（與樣品有關）
激光		半導體激光器，λ= 532nm， P=30mW
探測器		光電倍增管（PMT）
散射角		90o
樣品池		10mm×10mm×40mm, 1 ~ 4mL
測試溫度		5 ~ 40 ℃
溫控精度		±0.2 ℃
測試速度		< 5Min
體積		480mm×270mm×170mm
重量		12Kg
數字相關器	規格型號	CR256
	自相關通道	256
	基線通道	4
	單位延遲時間	100ns ~ 10ms