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GCSTD-A介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測定儀

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產(chǎn)品型號GCSTD-A

品牌

廠商性質(zhì)其他

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更新時間：2024-07-24 09:12:05瀏覽次數(shù)：142次

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北京中科微納精密儀器有限公司

經(jīng)營模式：其他

商鋪產(chǎn)品：204條

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產(chǎn)品簡介

GCSTD-A/B高頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀主要用途:主要用于測量非金屬材料的介電常數(shù)（）和介質(zhì)損耗（tan）應(yīng)用對象:該儀器用于科研機關(guān)、學(xué)校、工廠等單位對無機非金屬新材料性能的應(yīng)用研究

詳細(xì)介紹

GCSTD-A/B高頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀

主要用途:主要用于測量非金屬材料的介電常數(shù)（ε）和介質(zhì)損耗（tanδ）

應(yīng)用對象:該儀器用于科研機關(guān)、學(xué)校、工廠等單位對無機非金屬新材料性能的應(yīng)用研究。

滿足標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法

GB/T 5654-2007液體絕緣材料相對電容率、介質(zhì)損耗因數(shù)和直流電阻率的測量

GB/T 21216-2007絕緣液體測量電導(dǎo)和電容確定介質(zhì)損耗因數(shù)的試驗方法

GB/T 1693-2007硫化橡膠介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測定方法

GB/T 5594.4-1985__電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測試方法介質(zhì)損耗角正切值的測試方法

GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)
損耗因數(shù)的推薦方法

ASTM D150/IEC 60250固體電絕緣材料的(恒久電介質(zhì))的交流損耗特性和介電常數(shù)的測試方法

方法概述：

介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有復(fù)合材料等的一項重要的物理性質(zhì)，通過測定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)（ε），可進一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù)；儀器的基本原理是采用高頻諧振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗測試。它以單片計算機作為儀器的控制，測量核心采用了頻率數(shù)字鎖定，標(biāo)準(zhǔn)頻率測試點自動設(shè)定，諧振點自動搜索，Q值量程自動轉(zhuǎn)換，數(shù)值顯示等新技術(shù)，改進了調(diào)諧回路，使得調(diào)諧測試回路的殘余電感減至，并保留了原Q表中自動穩(wěn)幅等技術(shù)，使得新儀器在使用時更為方便，測量值更為精確。儀器能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等。

備注說明:

三種不同型號的儀器,主要區(qū)別是頻率不同,根據(jù)自己測試頻率,選擇合適的型號

電極規(guī)格

固體：材料測量直徑Φ38mm 可選；厚度可調(diào) ≥ 15mm

液體：測量極片直徑Φ38mm；液體杯內(nèi)徑Φ48mm 、深7mm（選配）

粉體：測量極片直徑Φ38mm；液體杯內(nèi)徑Φ48mm 、深7mm（選配）

試樣要求：固體樣品厚度要求：0.5-15MM

產(chǎn)品配置：

1、測試主機：一臺

2、測試電感：9個

3、測試夾具：1套（標(biāo)配固體測試夾具一套）

其它規(guī)格：