Leeb436手持式表面粗糙度測量儀

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更新時間：2022-08-10 13:18:47瀏覽次數：350次

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青島卓研測量儀器有限公司

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詳情介紹感興趣可以跟我司銷售人員詳細溝通技術參數項目Leeb436測量范圍Z軸（垂直）320μm(Ra=30μm)X軸（水平）17

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技術參數

項目		Leeb436
測量范圍	Z軸（垂直）	320μm(Ra=30μm)
	X軸（水平）	17.5mm
分辨率	Z軸（垂直）	0．01μm/±20μm
		0．02μm/±40μm
		0．04μm/±80μm
		0．08μm/±160μm
測量項目	參數	Ra、Rq、Rz、Rt、Rp、Rv、RS、RSm、Rz(JIS)、Ry(JIS)、RSk、R3z、Rmax、Rpc、Rmr、Rku、RΔa、RΔq、Rδc、Ry； Rk、Rpk、Rvk、Mr1、Mr2、A1、A2、V0；
	標準	ISO,ANSI,DIN,JIS
	圖形	粗糙度輪廓，支承率曲線，直接輪廓
濾波器		RC,PC-RC,Gauss,D-P
取樣長度(lr)		0.25,0.8,2.5mm
評定長度（ln）		Ln= lr×n n=1~5
傳感器	測量原理	位移式差動電感
	觸針	天然金剛石，90錐角，5μm針尖半徑
	測力	<4mN
	導頭	紅寶石，滑行方向半徑40mm
	滑行速度	lr=0.25, Vt=0.15mm/s
		lr=0.8, Vt=0. 5mm/s
		lr=2. 5, Vt=1mm/s
		返回 Vt=1mm/s
示值誤差		不大于±10%
示值變動性		不大于6%
電源		內置鋰聚合物充電電池，用8.4V,800mA充電器充電
外形尺寸		112×50×47mm
重量		約360g
標準配置		主機、標準傳感器、多刻線樣板、樣板支架、活動支架，遙控器、電源適配器、儀器箱
選配件		可選配簡易平臺