Sphere-3000反射率測試儀

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產品型號Sphere-3000

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更新時間：2025-03-21 09:55:39瀏覽次數：23次

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產品簡介

Sphere3000是一套全波長顯微球面光學元件光譜分析儀，能快速準確地測量各類球面/非球面器件的相對/反射...

詳細介紹

Sphere3000是一套全波長顯微球面光學元件光譜分析儀，能快速準確地測量各類球面/非球面器件的相對/反射率。適用于凸透鏡、凹透鏡、鏡片等的鍍膜反射率測量。還可進行有干涉條紋的單層膜厚或折射率測量。

技術參數

型號	Sphere-3000（I型）	Sphere-3000（III型）
檢測范圍	380~800nm	360~1100nm
波長分辨率	1nm	1nm
相對檢測誤差	﹤1%	﹤0.5%
測定方法	與標準物比較測定
被測物再現性	±0.1%以下(2σ) （380nm~410nm） ±0.05%以下(2σ) ， (410nm~800nm)	±0.1%以下(2σ)，(380nm~410nm) ；±0.05%以下(2σ) ，(410nm~1100nm)
單次測量時間	﹤1s
精度	0.3nm
被測物N.A.	0.12(使用10×對物鏡時) 、 0.24(使用20×對物鏡時)
被測物尺寸	直徑>1mm 厚度>1mm(使用10×對物鏡時) 厚度>0.5mm(使用20×對物鏡時)
被測物測定范圍	約φ60μm(使用10×對物鏡時) ；約φ30μm(使用20×對物鏡時)
設備重量	約15kg（光源內置）
設備尺寸	300(W)×550(D)×570(H)mm
使用環境	水平且無振動的場所溫度：23±5℃；濕度：60％以下、無結露；
操作系統	Windows XP, Windows Vista，Win7
軟件	分光反射率、物體顏色、單層膜厚（有干涉條紋）和鍍膜（有干涉條紋）折射率測定
尺寸	480400580mm