超聲測厚發(fā)展簡史
我們知道，器，無論是測厚儀還是探傷儀，本質(zhì)上都是“計(jì)時儀器"，即記錄脈沖的發(fā)送和接收、計(jì)算“發(fā)送"和“接收"的時間差、乘以輸入的超聲波在被測介質(zhì)中傳遞的速度（即該介質(zhì)中的超聲波聲速），由此得出介質(zhì)的厚度、或者是缺陷的在介質(zhì)中的位置。兩者的差異，概括而言，“超聲波測厚"更關(guān)注脈沖信號記錄的精確性和性，而“超聲波探傷"更關(guān)注脈沖信號的深度傳遞和信號捕捉的全面性（即不可遺漏、不可錯過）。
通常情況下，超聲測厚不需要超聲波傳遞得太遠(yuǎn)（如果太厚，就不需要太精確的測量了），所以在超聲測厚中，儀器的標(biāo)稱范圍，其上限一般都會是508mm，這個上限數(shù)值是一種“歷史沿革"，即的超聲波測厚，有幾個邊界條件：
1，介質(zhì)的超聲波聲速在5900m/s上下；
2，只考慮超聲波在介質(zhì)中的散射衰減、且該衰減水平與普通碳鋼（比如45#鋼）相近；
3，儀器的電路結(jié)構(gòu)所能給予換能器（也就是探頭）的能量是有限的；
4，需要多個探頭的交替使用才能覆蓋全量程。
自超聲測厚技術(shù)誕生至今，材料學(xué)和工藝學(xué)的發(fā)展豐富多彩，被測介質(zhì)的聲學(xué)特性也呈現(xiàn)出令人眼花繚亂的多樣性，因此，在超聲測厚技術(shù)的應(yīng)用和超聲測厚儀器的選擇上，不能圉于傳統(tǒng)的認(rèn)知。
超聲測厚儀器的研制、生產(chǎn)和應(yīng)用，已歷時百年、歷經(jīng)“五代"。
代儀器，采用的是“始脈沖——回波"技術(shù)。即，以“換能器的晶振片起始脈沖"和“次底面回波"的時間差為基礎(chǔ)來計(jì)算厚度。國內(nèi)的普通測厚儀基本上都是這種技術(shù)。
第二代儀器，采用的是“界面——回波"技術(shù).
即，事先剔除脈沖信號從晶振片開始到被測物表面的時間；
這種技術(shù)的出現(xiàn)，其目的本來是為了剔除“晶振片到探頭保護(hù)膜的距離"給測厚帶來的誤差，事實(shí)上，這個“距離"，與要測的厚度通常不在一個數(shù)量級上，因此，其適用性只在一個很窄的范圍內(nèi)才有意義。這種技術(shù)自本世紀(jì)初，在國外的儀器中開始有大量的應(yīng)用，但作為一種“權(quán)宜之計(jì)"的過渡技術(shù)，很快被跨越，不到五年的時間，就讓出了它的“地位"。
第三代儀器，采用的是“回波——回波"技術(shù)。
即，以“次底面回波"和“第二次底面回波"的時間差為基礎(chǔ)來計(jì)算厚度；這種技術(shù)，與“界面——回波"技術(shù)有相同的地方，即，都不用考慮“晶振片到探頭保護(hù)膜的距離"帶來的測量誤差，但同樣，只在小范圍內(nèi)才有適用意義。
這種技術(shù)得以應(yīng)用，其更大意義在于：該技術(shù)改變了儀器的電路結(jié)構(gòu)，使得儀器可以給換能器（探頭）更大的能量、并能更好地分檢回波信號，因此，應(yīng)對“信號衰減"，采用這種技術(shù)的儀器比前兩代儀器有了質(zhì)的提升；也因此，“回波—回波"，成了迄今為止超聲波測厚儀共同的技術(shù)基礎(chǔ)。
第四代儀器，采用的是“A掃描信號測厚"技術(shù)。
前面三代都是“讀數(shù)型測厚儀"，不管讀哪幾次波，最終都是靠事先設(shè)定的程序由儀器來判定和計(jì)算的。而“A掃測厚儀"則是將所有的信號都顯示在屏幕上，由操作者自行判斷、并且可以計(jì)算任意兩次波的時間差，也就是說，將測量的主動權(quán)交給了操作者，這對于分析型測厚、以及雜波信號較多的測厚非常有幫助；
第五代儀器，采用的是單晶探頭。
前面四代測厚儀，使用的都是雙晶探頭（只有在超薄件測厚中，才有專門的機(jī)型使用高頻單晶探頭），而雙晶探頭，由于晶振片排列的結(jié)構(gòu)性因素，超聲波的傳遞呈現(xiàn)出一個“V"型路徑，這意味著，晶振片發(fā)射和接收信號的有效面積勢必受到“V"路徑的影響，也就是說，每個雙晶探頭的測厚范圍受晶振片直徑、晶振片斜角的影響較大。
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