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BWGP-2000型變溫光譜測試系統（高低溫光譜系統）BWGP-2000型變溫光譜測試系統（高低溫光譜系統）BWGP-2000變溫光譜測試系統可以測試樣品在低溫和高溫下光譜發射的變化情況，該儀器配置不同系能得光譜可以用于透射、反射、吸收光譜是樣品譜與參比譜的比值，會降低原始光譜的信噪比，因此需要光譜儀具有較高的信噪比
| BWGP-2000型變溫光譜測試系統（高低溫光譜系統） BWGP-2000型變溫光譜測試系統（高低溫光譜系統） BWGP-2000變溫光譜測試系統可以測試樣品在低溫和高溫下光譜發射的變化情況，該儀器配置不同系能得光譜可以用于透射、反射、吸收光譜是樣品譜與參比譜的比值，會降低原始光譜的信噪比，因此需要光譜儀具有較高的信噪比；同時為了獲取更多信息，需要光譜儀具有寬泛的光譜范圍。而熒光強度較弱，屬于弱光信號，為了探測熒光光譜，一般需要高靈敏度的光譜儀。需要對微米尺度的光譜信號進行采集，這需要光譜儀具有微弱光信號的檢測能力。BWGP-2000是一款適合多種科研應用的光譜儀。 一、產品主要用途： 1、 用于高低溫下半導體發光波長在線檢測 2、 用于高低溫下手機面板透過率檢測 3、 用于高低溫下實驗室微區樣品透反射率檢測 4、 用于高低溫下薄膜透過率檢測其他化合物檢測 5、 用于高低溫下納米復合材料上轉換熒光中的應用 6、 用于高低溫下測試物體的顏色檢測 7、 用于高低溫下黑硅光電探測器研究中的應用 8、 用于高低溫下液晶顯示研究中的應用 二、產品主要特點： 1、 高低溫測試系統可以任意設置溫度 2、 電腦軟件自動顯示溫度和光譜圖 3、可以靈活搭配不同類型的光譜儀 二、主要技術參數： 1、溫度：-150℃-600℃ 2、探測范圍：200~1100nm 3、波長分辨率：0.7 nm 4、光學分辨率： 0.12nm (FWHM) 5、探測器： Hamamatsu，S10420 背照式 6、動態范圍： 6,000:1 7、信噪比： 800:1 (飽和時) 8、雜散光： < 0.1% @ 600nm 9、光纖接口： SMA905 10、數據傳輸： USB-B，支持 USB2.0 通訊協議，480Mbps 傳輸速度 11、外部觸發： 4 種觸發模式 12、測溫精度：0.1℃ 13、外形尺寸：L360mm*W370mm*H510mm 14、凈 重：22KG |
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