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HORIBA X熒光光譜儀是能量色散型X射線熒光分析儀,可以快速、無損地分析待測樣品的元素組成。不僅可以分析10 μm的微小區域;還可以自動掃描樣品,掃描區域可達10cm X 10cm。
HORIBA X熒光光譜儀
沒有什么技術可以如此簡單的獲得如此多的信息。僅僅需要點擊感興趣區域,就可以開始測量。并可以獲得光學圖像和元素面分布圖的*結合的測量結果。
單點分析以及自動球面成像 ,雙真空管模式,光斑尺寸自1.2 mm 到 10 µm.
單點分析以及自動成像,正常大氣壓力下分析,光斑尺寸自1.2 mm 到 10 µm.
新一代的HORIBA X熒光光譜儀 開創了科學分析的新時代。它將光學圖像與元素分析*地結合,為科研工作者的研究和分析提供了新的分析手段。
SDD檢測器保證了高速、高精度元素面掃描;高能量分辨率,高計數率的測量,且無需液氮。
雙真空式設計確保用戶可以在幾秒鐘內完成樣品室內部氛圍的切換(大氣或真空)。即使測量含水樣品、生物樣品時也可以保證測量
所有元素的高靈敏度。
*的硬件設計確保了XGT-7200操作的靈活性和廣泛的應用范圍。通過軟件控制x射線導管在10 µm和1.2 mm間切換,以保證獲得
測量條件,無論是微觀到宏觀。
與x射線導管同軸的CCD相機,可以迅速、精確地定位感興趣區域。
有著諸多創新的XGT-7200在眾多領域有著廣泛的應用:電子電器、發動機磨損分析、法醫科學、地質礦物、醫藥、博物館、冶金、生物等。 XGT-7200的靈活設計,保證用戶通過簡易的操作即可獲得高質量的分析結果,無論是分析大區域,還是對微區細節分析,或是同時采集X射線熒光圖像和X射線透過像。
主要特點:
1、 技術:可將X射線全反射聚焦的聚光導管。
2、 XGT技術創造了世界上小的分析用X射線光斑(10µm)
豐富強大的分析功能
1、 將光學圖像與元素分析*結合,輕松實現樣品中元素的分布分析。
2、 提供革命性的10µm直徑X射線束,實現對樣品高分辨率的元素分析。
3、 利用X射線的穿透性可以無損地對樣品內部結構進行觀察。
4、 提供多種樣品圖譜采集方式,單點分析,多點分析,X射線透過像,高光譜元素面分布圖像
5、 完備的數據分析包提供定性分析,定量分析,多層厚度分析,譜圖分析,譜圖匹配,譜圖比較,RGB圖像合成等豐富的功能。
6、 雙真空模式,局部真空模式用于粉末樣品,含水樣品或生物樣品進行分析,全真空模式可以進一步提供輕元素的分析精度。
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