進口高精度涂鍍層測厚儀EPK 740

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更新時間：2023-03-04 12:35:35瀏覽次數：313次

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珠海天創儀器有限公司

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產品簡介

進口高精度涂鍍層測厚儀EPK 740探頭內置外置可換，讓用戶使用更加靈活，涂鍍層測厚儀Minitest 740更換不同探頭既可測小工件，薄涂層，也可厚涂層，Z大測量到15mm。

詳細介紹

進口高精度涂鍍層測厚儀EPK 740

產品介紹

進口高精度涂鍍層測厚儀EPK 740探頭內置外置可換，讓用戶使用更加靈活，涂鍍層測厚儀Minitest 740更換不同探頭既可測小工件，薄涂層，也可厚涂層，大測量到15mm。

進口高精度涂鍍層測厚儀EPK 740特點

SIDSP使測量不受干擾，測值更加

可更換探頭使用更加靈活（EPK 740探頭可由內置換為外置）

FN探頭自動識別基體，使測量更迅速，避免操作錯誤

溫度補償功能避免溫度變化引起的錯誤

生產過程中50點校準使儀器獲得高度的特征曲線

大存儲量，能存儲10或100組多達100,000個讀數

讀數和統計值能單獨調出

超大，背光顯示屏，顯示內容可180度旋轉

菜單指引操作，25種語言可選

帶IrDA接口，紅外線傳輸數據到打印機和PC

可下載更新軟件

進口高精度涂鍍層測厚儀EPK 740探頭

探頭特性	F1.5，N0.7，FN1.5		F2	F5，N2.5，FN5		F15
	F	N	F	F	N	F
測量范圍	0-1.5mm	0-0.7mm	0-2mm	0-5mm	0-2.5mm	0-15mm
使用范圍	小工件，薄涂層，跟測量支架一起使用		粗糙表面	標準探頭，使用廣泛		厚涂層
測量原理	磁感應	電渦流	磁感應	磁感應	電渦流	磁感應
信號處理	探頭內部32位信號處理（SIDSP）
度	±（1μm+0.75%讀值）		±（1.5μm+0.75%讀值）			±（5μm+0.75%讀值）
重復性	±（0.5μm+0.5%讀值）		±（0.8μm+0.5%讀值）			±（2.5μm+0.5%讀值）
低端分辨率	0.05μm		0.1μm			1μm
小曲率半徑（凸）	1.0mm		1.5mm			5mm
小曲率半徑（凹，外置探頭）	7.5mm		10mm			25mm
小曲率半徑（凹，內置探頭）	30mm		30mm			30mm
小測量面積	Φ5mm		Φ10mm			Φ25mm
小基體厚度	0.3mm	40μm	0.5mm	0.5mm	40μm	1mm
連續模式下測量速度	每秒20個讀數
單值模式下大測量速度	每分鐘70個讀數

技術參數

型號特性	EPK 720	EPK 730	EPK 740
探頭類型	內置	外置	內置外置可換
數據記憶組數	10	10	100
存儲數據量	多10,000個	多10,000個	多100,000個
統計值	讀值個數，小值，大值，平均值，標準方差，變異系數，組統計值（標準設置/自由配置）
校準程序符合標準和規范	ISO，SSPC，瑞典標準，澳大利亞標準
校準模式	出廠設置校準，零點校準，2點校準，3點校準，使用者可調節補償值
限值監控	聲、光報警提示超過限
測量單位	um，mm，cm；mils，inch，thou
操作溫度	-10℃-60℃
存放溫度	-20℃-70℃
數據接口	IrDA 1.0（紅外接口）
電源	2節AA電池
標準	DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840 ASTM B244，B499，D7091，E376 AS 3894.3，SS 1841 60，SSPC-PA 2
體積	157mm x 75.5mm x 49mm
重量	約175g	約210g	約175g（內置）/230g（外置）