賽默飛 ELEMENT2/XR 電感耦合等離子質(zhì)譜儀可以同時分析周期表中的幾乎所有元素，濃度范圍從mg/L到pg/L ；兼容無機和有機溶液的基體和固體樣品。利用高分辨率直接分析有干擾的同位素；的確信不含干擾的元素圖譜；瞬時信號的多元素檢出器；并能與多種進樣和分離技術聯(lián)用，例如激光進樣。

詳細介紹

賽默飛 ELEMENT2/XR 電感耦合等離子質(zhì)譜儀可以同時分析周期表中的幾乎所有元素，濃度范圍從mg/L到pg/L ；兼容無機和有機溶液的基體和固體樣品。利用高分辨率直接分析有干擾的同位素；的確信不含干擾的元素圖譜；瞬時信號的多元素檢出器；并能與多種進樣和分離技術聯(lián)用，例如激光進樣。目前，已經(jīng)安裝使用的ELEMENT XR已超過600臺，服務于環(huán)境監(jiān)測、核科學、地球科學、材料科學等各個領域。
賽默飛 ELEMENT2/XR 電感耦合等離子質(zhì)譜儀主要特點：
· 線性范圍寬：線性范圍達12個數(shù)量級，不同模式自動切換校正；
· 靈敏度高：可使用賽默飛的Jet接口技術，提供的靈敏度；
· 具有固定寬度的低、中、高分辨率狹縫，采用高分辨率可直接分析有質(zhì)譜干擾的同位素。
目前市場上電感耦合等離子體質(zhì)譜儀大多數(shù)為四極桿型的ICPMS，波譜干擾是其的主要局限。作為等離子體氣的氬氣、水、酸和樣品基體本身結(jié)合在一起會產(chǎn)生各種各樣寬范圍的多原子聚離子，這種干擾聚離子可能擁有和目標元素相同的質(zhì)量數(shù)，導致在表面上目標元素的濃度不合實際地高。有好幾種方式被用于減少或回避這種波譜干擾的形成。包括運用數(shù)學校正、特殊的樣品導入系統(tǒng)、特殊的等離子體參數(shù)和碰撞/動態(tài)反應池來壓制部分的干擾，但是如果樣品的基體比較復雜時，這種干擾就很難被消除。因此高分辨等離子質(zhì)譜儀(HR-ICP -MS)應運而生，具有高分辨率的雙聚焦磁質(zhì)譜儀的之處在于簡單地利用干擾和目標元素的質(zhì)量數(shù)之間的微弱差別，無需知道干擾是什么，來自何方？zui高10000高分辨分析能力，能有效消除由等離子體、水以及基體元素所產(chǎn)生的多種干擾。
集成的法拉第杯檢測器特征
1.樣品時間低至1ms
2.高強度信號測量后無需延遲時間
3.SEM檢測器（模擬與計數(shù)雙模式）和法拉第杯檢測器之間的自動切換，延遲時間為< 1ms
4.不同檢測器工作模式之間存在較寬的交叉重疊范圍（數(shù)量級>2），可自動準確地進行交叉校正。
5.全自動交叉校正法拉第杯檢測器信號與SEM檢測器的模擬信號
6.動態(tài)范圍：5 x 10c cps to > 1 x 1012 cps（1ms樣品時間）
7.可實現(xiàn)的zui大可測量濃度超過1