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北京卓立漢光儀器有限公司
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LBIC 光束誘導電流成像系統是卓立漢光公司開發的用于測量光電材料的光電響應信號、表征材料光電性質的光電系統。
LBIC 光束誘導電流成像系統是卓立漢光公司開發的用于測量光電材料的光電響應信號、表征材料光電性質的光電系統。
該系統是基于激光光束誘導電流的測試原理，將光電材料對于光信號響應的不均勻性以可量化且可視化的方式顯示出來。通過該系統，可以研究例如太陽能電池光生電流的不均勻性，探索光電器件量子效率與器件電阻的分布特性，研究器件吸收與電荷生成的微區特性，以及光電材料界面、半導體結區的品質分布等。整個系統包括光源部分、顯微部分、位移臺部分、電控電測部分和軟件部分。
光束誘導電流成像系統特點：
高精度空間分辨率
靈活選擇多種激發光源
高倍聚焦激發光斑
精密自動化電動位移臺
光源、顯微、監視光路一體化設計
光束誘導電流成像系統技術規格：
| 系統名稱 | LBIC激光光束誘導電流成像系統 |
| 激發光源 | 多種高穩定性連續激光器 |
| 激光功率 | 0-30mW連續可調 |
| 聚焦光斑大小 | 小于50um |
| 光源功率穩定性 | <1% |
| 系統測量重復性 | <2% |
| 顯微系統 | X10、X20倍顯微物鏡 |
| 監視部分 | 130W像素工業相機 |
| 可測量樣品面積 | 100mm X 100mm |
| 位移空間分辨率 | 0.625um |
| 工作溫度范圍 | 10-35攝氏度 |
| 標準探測器 | 中國標定的Si或InGaAs標準探測器 |
光束誘導電流成像系統測試示例：
硅探測器對于405nm誘導激光量子效率空間分布圖， 圖示空間分辨率為50um。
某硅探測器的405nm激光光束誘導電流空間分布圖， 圖示空間分辨率為50um。
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