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CPL-300圓偏振熒光光譜儀

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更新時間:2024-02-21 14:55:44瀏覽次數:269次

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產品簡介

CPL-300圓偏振熒光光譜儀常規的ECD測量可得到基態手性分子的信息,而CPL能夠測量得到激發態手性物資的信息。

詳細介紹

CPL-300圓偏振熒光光譜儀概要

手性等化合物在單色光激發下,發射出左右圓偏振光強度不同,這樣的現象被叫圓偏振發光現象(CPL)。常規的ECD測量可得到基態手性分子的信息,而CPL能夠測量得到激發態手性物資的信息。 

CPL-300使用由Steinberg提出的原始180°熒光收集方法。 標準的無臭氧150W Xe燈可由用戶更換為Hg / Xe源。 儀器的雙棱鏡激發和發射單色器提供非常低的雜散光,并且沒有衍射光柵引起的雜散線性偏振效應。

CPL-300圓偏振熒光光譜儀規格

光源150W 空冷氙燈
(選配:150W 空冷Hg-Xe燈等)
檢測器光電子倍增管PMT
調幅器壓電彈性調幅器
電氣系統鎖定放大器
單色器Ex (激發)Em (發射)部分均為雙棱鏡單色儀
測量波長范圍250到 850 nm
400 到1100 nm (選配PMT檢測器)
波長精度±0.2 nm (250 to 500 nm)
±0.5 nm (500 to 800 nm)
±1.5 nm (800 to 1100 nm)
波長重現性±0.05 nm (250 to 500 nm)
±0.1 nm (500 to 800 nm)
±0.5 nm (800 to 1100 nm)
狹縫寬度1 - 4000 μm
數字積分時間(D.I.T.)0.1 msec to 30 sec
掃描方式連續掃描
步進掃描
自動響應時間掃描
掃描速度大到10000 nm /min
測光模式CD (AC電子元件元件 = CPL),DC (DC 電子元件=熒光),HT (高電壓f PMT), and AC/DC
CPL分辨率0.00001 mdeg
波長分辨率0.025 nm
雜散光小于0.001%
外部輸入端子雙通道數據采集(輸入范圍: -1 to 1 V DC)
汞燈用于儀器校準
遮板在EX激發和Em發射單色器
樣品室150 mm (W) x 310 mm (D) x 165 mm (H)
尺寸2000 mm (W) x 700 mm (D) x 1000 mm (H)
重量180 kg
量程± 8000 mdeg
功率240 V 50/60 Hz, 400 VA
程序軟件包Spectra Manager 2
 

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