高品質的熔點儀XPR-300C

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更新時間：2023-06-06 08:28:18瀏覽次數：258次

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上海豫光儀器有限公司

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產品簡介

一、儀器的主要用途和特點

詳細介紹

一、儀器的主要用途和特點

　　XPR-300型透射偏光熔點測定儀是地質、礦產、冶金、石油化工、化學纖維、半導體工業以及藥品檢驗等部門和相關高等院校的高分子等專業常用的專業實驗儀器。可供廣大用戶作單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察以及顯微攝影，來觀察物體在加熱狀態下的形變、色變及物體的三態轉化。

　　本系統廣泛應用于高分子材料、聚合物材料等化工領域，適用于研究物體的結晶相態分析、共混相態分布、粒子分散性及尺寸測量、結晶動力學的過程記錄分析、液晶分析、織態結構分析、熔解狀態記錄觀察分析等多研究方向。

　偏光顯微熔點測定儀XPR-300系統匯集了光電、模式識別、精密加工、圖象學、自動控制、模量學等多研究領域的技術，是多年研究開發的結果，本儀器具有可擴展性，可以接計算機和數碼相機。對圖片進行保存、編輯和打印。

二、儀器的主要技術指標

1.顯微鏡技術參數:

名稱	規格
總放大倍數：	40X---630X
無應力消色差物鏡	4X/0.1
	10X/0.25
	25X/0.40
	40X/0.65 彈簧
	63X/0.85 彈簧
目鏡	10X 十字目鏡
目鏡	10X 分劃目鏡
試片	石膏 1λ 試片
	云母 1/4λ 試片
	石英楔子試片
測微尺	0.01mm
濾色片	藍色
帶座目鏡網絡尺
移動尺	移動范圍 30mm×40mm
鏡筒	三目觀察

2.熔點儀技術參數:

熱臺組成	性能
顯微精密控溫儀	在 20倍物鏡下工作溫度可達到300 ℃ 、溫度運行程序全自動控制；溫度程序段由用戶自行設定， 30段溫度編程，循環操作，能比較準確的反映設定溫度、爐芯溫度、樣品的實際溫度。每段設定起始溫度，及在該段內可維持時間，升溫速率可調、精度 ± 0.3 ℃、記憶點讀數
顯微加熱平臺	可以隨載物臺移動、工作區加熱面積大、透光區域可調、工作區溫度梯度低于± 0.1 · 起始溫度室溫 ·工作區加熱使用面積至少 1X1厘米 · 工作區溫度梯度不超過 ± 0.1 · 透光區域 2mm以上，可調 · 顯示溫度與實際溫度誤差不超過 ± 0.2 · 熱臺可以隨載物臺移動在加熱狀態下可使用 20倍物鏡
注意：熔點測定（溫度超過100度時，25X的物鏡工作距離太近，容易損壞鏡頭，請選用長工作距離的物鏡25X、40X的物鏡）