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杭州晶飛科技有限公司
技術規格:
參 數 | 特 性 |
探測器性能 | 多片濱松探測器 |
光學平臺 | CT-F/4-101 |
波長測試范圍 | 320nm~1100nm (ILX511B) |
波長帶寬 | 0.1nm |
采樣速度 | 10Hz |
波長重現性 | ±0.1 nm |
積分時間 | 0.4ms-500ms(ILX511B) |
外部觸發延時 | -1ms us 到 1ms 間隔 0.5us |
同步采樣延時 | 小于0.5us |
接口及供電 | USB 2.0/480M |
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