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普通四探針方阻電阻率測試儀

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具體成交價以合同協議為準

產品型號HT-330

品       牌

廠商性質其他

所  在  地北京市

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更新時間:2023-12-09 12:37:27瀏覽次數:162次

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產品簡介

HT-330普通四探針方阻電阻率測試儀適用于EMI涂層等物質的薄層電阻與電阻率,導電性油漆,導電性糊狀物,導電性塑料,導電性橡膠,導電性薄膜,金屬薄膜的測試

詳細介紹

HT-330普通四探針方阻電阻率測試儀適用于EMI涂層等物質的薄層電阻與電阻率,導電性油漆,導電性糊狀物,導電性塑料,導電性橡膠,導電性薄膜,金屬薄膜的測試。

適用范圍:

1.覆蓋膜;導電高分子膜,高、低溫電熱膜;隔熱、導電窗膜 導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結、濺射、涂覆、涂布層,電阻式、電容式觸屏薄膜;電*涂料,其他半導體材料、薄膜材料方阻測試

2.硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻  半導體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件,導電薄膜(ITO導電膜玻璃等),金屬膜,導電漆膜,蒸發鋁膜,PCB銅箔膜,

3.EMI涂層等物質的薄層電阻與電阻率,導電性油漆,導電性糊狀物,導電性塑料,導電性橡膠,導電性薄膜,金屬薄膜,

4.抗靜電材料, EMI 防護材料,導電性纖維,導電性陶瓷等,

 

功能描述:

1. 四探針單電測量方法

2. 液晶顯示,自動測量,自動量程,自動系數補償.

3. 集成電路系統、恒流輸出.

4. 選配:PC軟件進行數據管理和處理.

5. 提供中文或英文兩種語言操作界面選擇

 

參照標準:

1.硅片電阻率測量的國際標準(ASTM F84).

2.GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》.

3.GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》.

4.GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》.

 

技術參數:

規格型model

HT-331

HT-332

HT-333

HT-334

HT-335

HT-336

1.方塊電阻范圍Sheet   resistance

10-5~2×105Ω/□

10-4~2×105Ω/□

10-3~2×105Ω/□

10-3~2×104Ω/□

10-2~2×105Ω/□

10-2~2×104Ω/□

2.電阻率范圍Resistivity  

10-6~2×106Ω-cm

10-5~2×106Ω-cm

10-4~2×106Ω-cm

10-4~2×105Ω-cm

10-3~2×106Ω-cm

10-3~2×105Ω-cm

測試電流范圍

Test current

0.1μA ,1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100mA

10μA,100µA,1mA,10mA,100mA

0.1μA ,1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100mA

10μA,100µA,1mA,10mA,

100mA

0.1μA,1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100mA

1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100mA

4.電流精度   Current accura

±0.1%

±0.2%

±0.2%

±0.3%

±0.3%

±0.3%

5.電阻精度Resistance  

≤0.3%

≤0.3%

≤0.3%

≤0.5%

≤0.5%

≤0.5%

6.顯示讀數display  

液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率LCD:   resistance. resistivity. sheet resistance. temperature. unit   conversion.temperature coefficient. current. voltage. probe shape. probe   spacing. thickness. conductivity

7.測試方式test   mode

普通單電測量general single electrical measurement

8.工作電源power

輸入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗:<30W  

9.誤差errors

≤4%(標準樣片結果   Standard Sample results)

10.選購功能choose   to buy

選購1.pc軟件; 選購2.方形探頭; 選購3.直線形探頭; 選購4.測試平臺;5.標準電阻  

1.pc software; 2. square probe; 3. linear probe; 4.   test Platform.

11.測試探頭Test   probe

探針間距選購:1mm;2mm;3mm三種規格; 探針材質選購:碳化鎢針;白鋼針;鍍金磷銅半球形針Optional probe spacing: 1mm;2mm;3mm in three sizes.

Select probe material: tungsten carbide needle. white   steel needle. gilded copper hemispherical needles.

 


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