輪廓儀和粗糙度儀測量*體機 XCR 20

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更新時間：2023-12-16 15:45:02瀏覽次數：166次

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組合“輪廓和粗糙度“測量任務使用的測量站-MarSurfXCR20描述組合“輪廓和粗糙度“測量任務使用的測量站-MarSurfXCR20MarSurfXCR20組合測量站是輪廓和粗糙度測量的理想選擇

詳細介紹

組合“輪廓和粗糙度“測量任務使用的測量站 - MarSurf XCR 20

描述

組合“輪廓和粗糙度“測量任務使用的測量站 - MarSurf XCR 20MarSurf XCR 20 組合測量站是輪廓和粗糙度測量的理想選擇。

此測量站包含 PCV / CD 120 驅動單元和 GD 25 粗糙度驅動單元和 MFW 250 B 測頭系統。

兩個驅動單元均使用聯合支架安裝在測量立柱 (ST 500/ST 750)上，可用于粗糙度 (GD 25) 或輪廓（PCV 或 CD 120）測量。

結合 XCR 20 測量和評定軟件，此測量站配置可用作通用型測量站測量粗糙度深度和輪廓。

主要優勢有：

*個測量站適合兩種測量任務

* 使用經過檢驗和測試的 PCV 200 輪廓驅動和測頭系統（如上文所述）。

* 使用高精度 GD 25 和 MFW 250 B 測頭和高分辨率測量系統測量粗糙度

另外，此聯合測量站還可改裝為 XC 20 配置。換句話說，如有需要，您可使用 PCV / CD 120 驅動單元方便地將 XC 20 測量站升級為聯合測量站。只需添加 GD 25 驅動單元和聯合支架。軟件需要從 XC 20 升級為 XCR 20。

技術參數:

接觸速度(Z方向)	0.1-1mm/s
測桿長度	175mm，350mm
測量速度（文本）	0.2mm/s至4mm/s
針尖半徑	25
掃描長度末尾（X方向）	200mm
分辨率	Z方向，相對探針針頭： 0.38μm（350mm測桿）/0.19μm（175mm測桿） Z方向，相對測量系統：0.04μm
掃描長度開始（X方向）	0.2mm
取樣角	在平滑表面上，取決于偏差：后緣高至88°，前緣高至77°
定位速度（文本）	X方向返回速度：0.2至8mm/s Z方向：0.2至10mm/s
導塊偏差	＜1μm（200mm以上）
測量原則	探針法
輸入	R測頭，MFW250 光學測頭Focodyn、LS 1、LS 10* （*僅結合PGK或GD 120 CNC驅動裝置）
測量范圍mm	（in Z）50mm MFW 250：±25μm，±250μm，（±750μm）；±1000μm,±10000μm（±30000μm）
掃描長度（文本）	自動；0.56mm；1.75mm；5.6mm；17.5mm，56mm，（.022/.070/.224/.700/2.240英寸）測量至擋塊，可變
采樣長度數量符合ISO/JIS	1至50（默認：5）
測量力(N)	1mN至120mN左右（可在MarSurf XC 20中設置）