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行業(yè)產(chǎn)品

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FOX-NP 適用于邏輯/存儲(chǔ)器/光子/電源設(shè)備的緊湊型高功率測(cè)試和可靠性驗(yàn)證解決方案

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產(chǎn)品型號(hào)

品       牌

廠商性質(zhì)其他

所  在  地上海

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更新時(shí)間：2022-12-08 12:28:17瀏覽次數(shù)：245次

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產(chǎn)品簡介

緊湊靈活的解決方案，用于高吞吐量可靠性驗(yàn)證和測(cè)試處理整個(gè)晶圓/面板/單片芯片/模塊應(yīng)用在最終封裝集成之前確定發(fā)生故障的邏輯/存儲(chǔ)器/光子管芯使用WaferPak™接觸器或DiePak®的大功率熱卡盤雙刀片（插槽）功能托架（用于單個(gè)管芯/模塊）高功率晶圓/芯片/模塊驗(yàn)證和測(cè)試的經(jīng)濟(jì)高效解決方案每個(gè)刀片服務(wù)器（插槽）的可配置通道資源：通用通道模塊，高壓通道模塊或大電流通道模塊每個(gè)刀片具有多達(dá)2,048個(gè)“通用通道"資源：（I/O/時(shí)鐘/PPMU/DPS）每通道掃描，模式化數(shù)據(jù)并捕獲內(nèi)存，以通過BIST/DFT測(cè)試設(shè)備每個(gè)刀片最多可提供1,024個(gè)高壓（29V）或大電流（2A）的資源經(jīng)過生產(chǎn)驗(yàn)證的全晶圓可靠性驗(yàn)證和測(cè)試解決方案通過在可靠性驗(yàn)證過程中對(duì)晶圓/芯片/模塊進(jìn)行功能測(cè)試來降低測(cè)試成本當(dāng)配置有WaferPak接觸器/DiePak托架和Wafer時(shí)，可提供整體解決方案對(duì)準(zhǔn)器/DiePak裝載機(jī)通過每個(gè)通道的個(gè)別過流和過壓保護(hù)來保護(hù)設(shè)備

詳細(xì)介紹

 
 
 
Full Wafer & Singulated Die / Module Test System

SYSTEM BENEFITS
? Compact Flexible Solution for High Throughput Reliability Verification and Test
? Handles full wafer, panel, singulated die and module applications
? Identifies failing logic, memory and photonic die before final package integration
? High power thermal chuck dual Blade (slot) capability using WaferPakTM contactors or DiePak®
carriers (for singulated die and modules)
? Cost-Effective Solution for High Power Wafer/Die/Module Verification and Test
? Configurable channel resources per Blade: Universal Channel Modules, High Voltage Channel
Modules or High Current Channel Modules
? Up to 2,048 “Universal Channel” resources: (I/O, Clock, PPMU or DPS) per Blade with deep
scan, pattern data and capture memory for testing of devices with BIST or DFT capabilities
? Up to 1,024 high voltage (29 V) or high current (2 A) sources resources per Blade
? Production Proven Full-Wafer Reliability Verification & Test Solution
? Reduces test costs by functionally testing wafers, die or modules during reliability verification
? Offers a total solution when configured with a WaferPak contactor, DiePak carrier, Wafer
Aligner and DiePak Loader
? Protects devices with individual per channel over-current and over-voltage protection


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