HIOKI日置IM3570阻抗分析儀
IM3570 是 Hioki 的寬帶 4Hz-5Mz 用于高速測試和掃頻阻抗分析儀。
IM3570 Hioki 阻抗分析儀
Hioki IM3570 阻抗分析儀，寬帶 4Hz-5Mz，用于高速測試和頻率掃描
HIOKI日置IM3570阻抗分析儀
特征：
用于高速測試和掃頻的單設備解決方案
Hioki IM3570 阻抗分析儀、LCR 表和阻抗分析儀能夠將 4 Hz 至 5 MHz 的測量頻率和 5 mV 至 5 V 的測試信號電平組合到一臺測量儀器中。高級功能包括交流信號的 LCR 測量、直流電 (DCR) 的電阻測量以及連續改變測量頻率和測量電平的掃描測量。
IM3570有助于在不同的測量條件和測量模式下進行高速連續測量，因此迄今為止需要多臺測量儀器的檢測線只需一臺設備即可。
測量時間縮短
與以前的型號相比，測量時間縮短了，在 LCR 模式下實現了 1.5ms (1 kHz) 和 0.5ms (100kHz) 的速度。（當顯示器關閉時，當顯示器打開時，時間增加 0.3 ms）。與以前的 Hioki 產品（基本速度為 5ms 的 3522-50 和 3532-50）相比，這是一個顯著的速度提升。更快的速度有助于增加測試數量。此外，需要測量多個點的掃描測量實現了每點0.3ms的快速速度。
低阻抗測量精度提高
與以前的 HIOKI 產品相比，低阻抗測量時的重復精度提高了一位數。例如，當條件為 1 mΩ (1V, 100 kHz) 且測量速度為 MED 時，可以以 0.12% 的重復精度（變化）進行穩定測量，從而使本儀器適用于 100 kHz ESR 測量。
電感器（線圈和變壓器）的 DCR 和 LQ 測量
儀器可連續測量LQ（1 kHz，1mA恒流）和DCR，并在同一屏幕上顯示數值。電流相關元件，例如包含電感值根據施加電流而變化的磁芯的線圈，可以用恒定電流 (CC) 測量。與以往產品相比，低阻抗測量時的重復精度提高了個位數，因此可期待穩定的 DCR 測量。
與以前的 Hioki 產品相比，通過提高 0 的測量精度，對于 0 處于 90° 附近的高 Q 和 Rs 值，可以進行比以前更好的一位數的精度和重復精度的測量。
產品特點：
LCR、DCR、掃描和連續測量，在一個單元中進行高速測試
LCR 模式下的測試速度為 1.5ms (1 kHz) 和 0.5ms (100kHz)
Z參數基本精度高：±0.08%
非常適合測試壓電元件的諧振特性、功能性聚合物電容器的 CD 和低 ESR 測量、電感器（線圈和變壓器）的 DCR 和 LQ 測量
在分析儀模式下執行頻率掃描、電平掃描和時間間隔測量
支持測量條件的高速切換
