上海千欣儀器有限公司
自從1998年以來，作為單光子計數設備的技術，BeckerHickl GmbH提供各種用于激光掃描共聚焦顯微鏡的高級FLIM系統。熒光壽命成像顯微技術已在生命科學，臨床熒光壽命領域中得到了廣泛的應用。成像，擴散光學層析成像，熒光相關光譜等等。使用我們專有的多維時間相關單光子計數技術（TCSPC），我們的FLIM和TCSPC系統具有超高光子效率的特點。
主要技術參數：
基于BH的多維TCSPC技術
適用于任何快速共聚焦或多光子掃描系統
采集時間降至100毫秒
超高時間分辨率
圖像大小從128 x 128像素到2048 x 2048像素
峰值計數率超過20 MHz
IRF寬度<25 ps
時間通道寬度降至405 fs
每像素最多4096個時間通道數
FLIM主要應用實例：
單晶鹵化物鈣鈦礦進行化學陰離子交換處理后，需對其結構上的材料特性進行檢測。此時需要獲得一個二維平面上完整的信息，以此判斷其性質的改變結果，利用FLIM及高光譜設備，可以快速測到正方形顯示單元在中心、邊緣、頂點的熒光壽命衰減曲線和PL光譜曲線(比例尺，5μm）。
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