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深圳市精誠儀器儀表有限公司
韓國XRF-2000X光鍍層測厚儀,測量鍍金,鍍銀,鍍鎳,鍍鋅,鍍銅,鍍錫,鍍鈀等
韓國微先鋒X-RAY鎳金膜厚測試儀
微先鋒XRF-2020系列鍍層測厚儀
型號:XRF-2020H,XRF-2020L,XRF-2020PCB
品牌:Micro Pioneer
原產地:韓國
X-RAY鎳金膜厚測試儀:韓國XRF-2020系列功能能介紹
全自動臺面
自動雷射對焦
多點自動測量 (方便操作人員準確快捷檢測樣品)
測量樣品高度3cm 10cm 15cm 20cm 以內四種規格可選
鍍層厚度測試范圍:0.03-35um
可測試單層,雙層,多層及合金鍍層厚度
每層鍍層都可分開顯示各自厚度.
測量時間:10-30秒
韓國微先鋒X-RAY膜厚儀
XRF-2000鍍層測厚儀共分三種型號
不同型號各種功能一樣
機箱容納樣品大小有以下不同要求
XRF-2000鍍層測厚儀型號介紹
XRF-2000鍍層測厚儀H型:測量樣品高度不超過10cm
XRF-2000電鍍測厚儀L型:測量樣品高度不超過3cm
XRF-2000電鍍膜厚儀PCB型:測量樣品高度不超3cm儀器功能
韓國微先鋒X-RAY膜厚儀
XRF2000鍍層測厚儀,提供金屬鍍層厚度的測量,同時可對電鍍液進行分析,不單性能*,而且價錢*
同比其他牌子相同配置的機器,XRF2000為您大大節省成本。只需數秒鐘,便能非破壞性地得到準確的測量結果
甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任。全自動XYZ樣品臺,鐳射自動對焦系統,十字線自動調整。超大/開放式的樣品臺
韓國微先鋒X-RAY膜厚儀可測元素范圍:鈦(Ti) – 鈾(U) 原子序 22 – 92
準直器:固定種類大小:可選圓形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型1×0.4mm
自動種類大小:可選圓形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型0.05×0.4mm
電腦系統:彩色打印機
綜合性能:鍍層分析 定性分析 定量分析 鍍液分析 統計功能
韓國微先鋒X-RAY膜厚儀?基本技術參數:
1、測量的厚度范圍為0.03微米~35微米。
2、可滿足的測量鍍種為:鍍金、鍍鋅、鍍鈀、鍍鉻、鍍銅、鍍銀、鍍錫、鍍鎳等
3、可滿足單鍍層、雙鍍層、多鍍層、合金鍍層測量,不限底料。
三、韓國微先鋒X-RAY膜厚儀設備功能描述
兼容Microsoft Windows 操作系統
使用X熒光射線可作非接觸非破壞快速分析膜層
擁有多種濾波器選擇
各種樣品單層至多層(5層),合金膜層與溶液均可測量
定點自動定位分析
光徑對準全自動
影像重疊功能
自動顯示測量參數
彩色區別測量數據
多重統計顯示視窗與報告編輯應用2D/3D,任意位置測量控制Y軸全自動控制鐳射對焦與自動定位系統
韓國微先鋒X-RAY鎳金膜厚測試儀:檢測電子電鍍,五子電鍍層厚度。可測單鍍層,雙鍍層,多鍍層及合金鍍層
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