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MPS30系列脈沖雷達物位計是基于時域反射原理的*測量系統
MPS30系列脈沖雷達物位計是基于時域反射原理的*測量系統。雷達物位計的天線發射極窄的微波脈沖，這個脈沖以光速在空間傳播，遇到被測介質表面時，由于介電常數發生突變，微波脈沖的部分能量被反射回來，并被天線系統接收。
發射脈沖與接收脈沖的時間間隔與雷達天線到被測介質表面的距離成正比。通過測量發射脈沖與反射脈沖的時間差，并由式(1)即可計算出被測物質到儀表法蘭的距離。
D=1/2·ct (1)
其中D為測量參考面到被測介質的距離，c為光（電磁波）在真空的的傳播速度，t為發射脈沖與反射脈沖的時間差。
然后根據用戶設定的空料位位置，由式(2)即可計算出物料高度。
L=E-D (2)
其中E為測量參考面到用戶設定的空料位位置，D為測量參考面到被測介質的距離，L為物料高度。
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