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數(shù)字植物冠層分析系統(tǒng)

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產品型號HemiView

品       牌

廠商性質代理商

所  在  地合肥市

聯(lián)系方式:吳先生查看聯(lián)系方式

更新時間:2023-08-30 11:19:01瀏覽次數(shù):194次

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經營模式:代理商

商鋪產品:81條

所在地區(qū):安徽合肥市

聯(lián)系人:吳先生 (銷售)

產品簡介

HemiView數(shù)字植物冠層分析系統(tǒng)通過處理影像數(shù)據(jù)文件來獲取與冠層結構有關的,例如葉面積指數(shù)、光照間隙及間隙分布狀況。通過分析輻射數(shù)據(jù)的相關信息,能夠測算出冠層截獲的PAR以及冠層下方的輻射水平。其軟件可以計算輻射指標、冠層指標、測量地點的光線覆蓋狀況及直射與漫射光的分布等。

詳細介紹

HemiView數(shù)字植物冠層分析系統(tǒng)

 

名稱:數(shù)字植物冠層分析系統(tǒng)         型號:HemiView         產地:英國

用途:HemiView通過處理影像數(shù)據(jù)文件來獲取與冠層結構有關的,例如葉面積指數(shù)、光照間隙及間隙分布狀況。通過分析輻射數(shù)據(jù)的相關信息,能夠測算出冠層截獲的PAR以及冠層下方的輻射水平。其軟件可以計算輻射指標、冠層指標、測量地點的光線覆蓋狀況及直射與漫射光的分布等。

原理:使用180度魚眼鏡頭和高清晰度數(shù)碼相機從植物冠層下方或森林地面向上取像, 再將數(shù)碼相機的高清晰度影像載入軟件,進行分析處理。

HemiView<strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong>     HemiView<strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong>

技術規(guī)格:

 

圖像文件類型BMP、JPEG、TIF、Photo CD
圖像分辨率zui小512×512,zui大4368×2912(和數(shù)碼相機有關)
鏡頭變形能多種相關天頂角和光線距離
直射光模型簡單的空氣傳遞,由用戶設置
散射光模型統(tǒng)一或標準陰天
數(shù)據(jù)輸出Excel兼容表格格式
總像素1510萬像素
zui大支持圖片分辨率4368×2912像素
魚眼透鏡視角180°
存儲容量2GB,可擴展
可伸縮單臂支架高度0.69~1.66米
三腳架高度zui高1.73米
操作溫度+5~+55℃

 

輸出參數(shù):
·天空幾何:質心,立體角和像素計算用于每個天空扇區(qū);
·間隙粒級:比例的可見天空扇區(qū);
·葉面積指數(shù):天空扇區(qū)或全部數(shù)值;
·太陽輻射:直射和散射,冠層上方和下方,能量或質量單位;
·位置因數(shù):直接,間接(散射),全部;
·時間序列和Sunflecks:可查看日期的日盤(半陰影作用)和太陽輻射,用戶自定義的采樣間隔時間或sunfleck順序
·可選余弦修正:可用任何方位的截取表面;
·全部數(shù)值:大部分輸出能將天空扇區(qū)表格化,集合到單個全天空或年數(shù)值中。


HemiView<strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong>  HemiView<strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong>

特點:
·交互式圖示定位工具:精準記錄的圖像半球縱坐標系統(tǒng)。補償磁場偏差;
·支持圖像分類:強度區(qū)分界限和干擾像素。圖像按照實時更新分類;
·圖像可多重和拆分查看:分類和色彩/灰色等比率查看,或將整幅圖像拆分開瀏覽;
·圖像底片:圖像可轉換為底片模式進行查看和分析;
·可給不同的天空區(qū)域定義號碼:天頂角和方位角定義范圍;
·單個樹的葉面積:直接可通過HemiView輸出單個樹的LAI;
·分析局部圖像:可以將圖像中不需要參與分析的部分排除;
·地點,鏡頭和太陽模型的參數(shù):用戶可設定地點,鏡頭和太陽模式應用到任何一個圖像中,方便從列表中選擇;
·定義鏡頭的特點:鏡頭方程是當用戶使用了當前鏡頭和老款類型提供的ΔT;
·輸出:分析結果可輸出為Excel兼容表格格式或文本格式;
·自定義輸出參數(shù):用戶可根據(jù)不同的圖像定義不同的輸出參數(shù)。

HemiView<strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong>

時間序列計算光照示例圖

產地:英國  

 


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