JIMA RT RC-05B 分辨率測試卡

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更新時間：2024-07-04 15:59:45瀏覽次數：185次

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產品簡介

JIMA RT RC-05B 分辨率測試卡是一款采用新半導體光刻技術制作的微型分辨率測試卡。它用于校準和監控系統分辨率，確保微焦點或納米焦點X射線檢測系統獲得高質量的結果。

詳細介紹

一、JIMA RT RC-05B 分辨率測試卡詳細介紹：

JIMA RT RC-05B是一款采用新半導體光刻技術制作的微型分辨率測試卡。它用于校準和監控系統分辨率，確保微焦點或納米焦點X射線檢測系統獲得高質量的結果。JIMA RT RC-05B支持3微米至50微米（3 μ m至50 μ m）的分辨率。這對應于6微米和100微米（6 μ m和100 μ m）之間的焦斑尺寸。