久經考驗的技術和可靠性
智能設計特色
SediGraph III Plus 粒度分析儀*的設計確保了測量的重復性和使用的便利性。使得儀器操作更加容易,日常維護更加簡單。并且能夠確保對同一樣品,在任意一臺SediGrap h 儀器上都能獲得重復性*的結果。
? 高精度X 光管終身保修(7 年)
? 簡化泵系統,確保快速分析和易于維護
? 降低噪聲,提供更加安靜的工作環境
? 維護提醒裝置,根據總測試量,提示用戶進
SediGraph III PLUS 5125 Particle Size Analyzer
全自動X光沉降粒度分析儀
在過去的四十多年中,麥克公司的SediGraph 是眾多實驗室粒度分析的標準儀器。無論是在惡劣的生產環境中還是在實驗室里,SediGraph 憑借其的性能,能夠獲得可靠精確的測量結果。該儀器采用X-光沉降法測量粒徑分布,通過檢測樣品對X射線的吸收直接測量顆粒質量。SediGraph 根據斯托克斯定律,通過測量顆粒在已知性質液體中的沉降速率,能夠得出粒徑范圍在0.1μm-300μm間樣品顆粒的等效球徑。
新一代的SediGraph III Plus 粒度分析儀結合了經典的和改進的顆粒分析技術,能夠提供具備更高重復性和精確度的顆粒粒徑信息,并且進一步加快了測試速度,在幾分鐘內即可完成測試。