LS 13 320 XR 激光衍射粒度分析儀是一款全自動、高準確性、高分辨率、高重現性以及操作非常簡單的干濕兩用粒度分析儀，采用全程 Mie 光散射理論并提供 Fraunhofer 理論模型。LS 13 320 XR 配備有多種新型的樣品進樣模塊，“即插即用"，滿足不同的分析要求，靈活便利；的 PIDS 技術（號：4953978，5104221），真正實現 10nm 粒徑測量；直觀的軟件和觸摸屏設計，大大簡化了儀器的操作。LS 13 320 XR 將為您開啟全新的測量體驗！
1）寬測量范圍：10 nm - 3,500 μm
提供真實（峰值）、高分辨率的測試數據，下限低至10 nm，上限高達 3,500 μm
2） 升級版 PIDS 技術：偏振光強度差散射
提高原始數據檢測精度，提高檢測器檢測垂直和水平偏振散射光的靈敏度，真正實現亞微米級粒度分析 - 以往極難達到的測量能力
3） 多峰自動檢測
測量前無需估計粒度分布情況（比如多峰、窄分布），便可獲得正確的測量結果。
4 ）簡單、直觀的操作軟件
? 從開始測量到獲得結果僅需 2 次點擊
? 包含一個集成的光學常數數據庫
? 隨時向您通報有用的用戶診斷報告
? 精簡的工作流不僅易于使用，更節省時間
這是《生產質量管理規范（GMP）》和其它法規要求所必須的。
LS 13 320 XR 激光衍射粒度分布分析儀配備符合 GMP 要求的驗證程序，可滿足安裝驗證（IQ）和運行驗證（OQ）所需。
FDA的《電子記錄和電子簽名規則》（21 CFR第11部分）規定了提交電子文件的要求。選擇軟件的安全等級，系統將自動調節以下配置， 以符合該法規要求：
? 用戶安全登錄
? 用戶權限
? 審查跟蹤
? 錯誤日志文件
? 管理配置工具
比以往更高效的粒度分析
LS 13 320 XR 軟件的功能界面更加直觀，非常易于使用，您無需具備大量的操作知識便可輕松獲得準確的數據。
開始測量：
檢測方法一旦在 LS 13 320 XR 軟件中設定，僅需點擊 2 次便可開始測量。選擇預先設定的方法，編輯樣品信息，然后點擊開始測量。
儀器自檢結果：
儀器配備有自檢診斷功能，測試過程中隨時顯示測量情況。
自動合格/不合格管理，實現直接質控：
為檢驗樣品合格/不合格，LS 13 320 XR 軟件自動對測量結果標注綠色或紅色，提示其是否符合所需規格。因此，無論操作人員經驗如何，均可通過該功能迅速了解樣品質量情況。
導航輪：
顯示和導出數據僅需點擊 1 次。
細節尤為重要！樣本間極細微的差異，會導致成品間出現巨大差異。
這也是為什么 LS 13 320 XR 激光衍射粒度分布分析儀采用 132 枚檢測器的原因，其可以提供更高的分辨率，獲得更準確的檢測結果，同時實現 10 nm - 3,500 μm 的寬范圍測量。
X-D陣列檢測器 - 確保高分辨率的準確測量
? 設計的 X 型對數排布檢測器陣列，可以準確記錄散射光強信號，獲得真實準確的粒度分布
? 132 枚檢測器能夠清晰區分不同粒度等級間散射光強譜圖差異，快速、準確的提供真實粒度分布
? 優化的檢測器信噪比，大大提高了檢測到散射光強譜圖細微變化的能力
? 亞微米檢測區域，應用 6 枚檢測器對三種不同波長的光在垂直和水平偏振方向上進行 36 個單獨檢測，提供納米級顆粒優異的準確性和高分辨率
多峰樣品自動檢測，更放心
? 憑借業界出眾的技術，無需預估樣品峰型，無需選擇分析模型，輕松準確分析多峰樣品，讓您對測試結果更放心
? 準確性誤差優于 ±0.5%
? 重復性誤差優于 ±0.5%
創新不止，重磅升級，基于升級版 PIDS 技術，LS 13 320 XR 真正實現納米級測量，提供亞微米顆粒更高分辨率的粒度分析，下限可準確檢測至 10nm！
PIDS 技術：偏振光強度差散射
傳統方法測量亞微米顆粒的散射光強譜圖在形狀和強度上都非常相似，區分比較困難，因此當測量亞微米顆粒時，由于分辨率低而造成不準確的粒度測量。而亞微米顆粒在水平和垂直偏振光下可形成差異的散射譜圖，而這些差異便是亞微米顆粒識別的重要信息。PIDS技術采用了 3 種不同波長的光順次照射樣品，首先為垂直偏振，
然后為水平偏振，通過分析每個波長的水平和垂直輻射光之間的差異，便可獲得亞微米樣品準確的粒度分布信息。
升級版 PIDS 技術從光源到濾波器再到檢測器都進行了全面的升級，使得測量亞微米顆粒的動態范圍和分辨率都得到了更大程度上的提高。
PIDS 技術不僅可以直接檢測小至 10 nm 的顆粒，而且還可以直接檢測亞微米范圍內的多峰分布。
LS 13 320 XR光學平臺進樣模塊及配件
貨號 描述
B98100 LS 13 320 XR 多波長光學平臺
C27180 LS 13 320 XR 多波長光學平臺，帶工作站
C20930 工作站
B98103 干粉系統模塊 ( DPS )
? 粒度測量范圍：400nm - 3,500μm
? 根據 ISO 13 320 技術標準要求，測量全部取樣樣品
? 設定遮光度參數以優化進樣率
? 用戶可選真空壓力實現分散控制
? 的“龍卷風"干粉分散技術
B98105 通用液體模塊 ( ULM )
? 粒度測量范圍：10nm - 2,000μm
? 全自動稀釋、排/進液及自動清洗
? 分析懸浮于水相或有機相中的樣品，靈活易用
? 與液體接觸材質：Teflon®、316 不銹鋼、玻璃、Kal-rez®、PEEK
? 化學相容性：丁醇、丁酮、碳、四氯化物、氯仿、乙醇、庚烷、己烷、噴氣燃料、煤油、酮、甲醇、二氯甲烷、戊烷、石油醚、丙醇、甲苯、、三氯乙烯、水、弱酸弱堿溶液（pH 4 - 10）、乙二醇、聚乙二醇、甘油、礦物油和硅油
B95435 超聲波控制單元
? 探針式超聲波可控制濕樣均勻分散
? 功率全程可調
? 測樣之前/過程中均可在 ULM 進行超聲處理
C06826 真空吸塵器
? 真空壓力范圍全程可調
? 集成真空控制裝置，用于優化真空/遮光率設置
LS 13 320 XR 技術參數
技術：前向小角度散射光技術結合 PIDS（偏振光強度差散射）技術，應用三種不同波長的光在垂直和水平偏振方向上，分析六個不同角度的散射光。
同時符合夫瑯和費（Fraunhofer）理論和米氏（ Mie）理論。
光源 ：主光源：785 nm
其它光源（PIDS）：475、613、900 nm
粒度測量范圍：全量程范圍：10 nm - 3,500 μm（峰值）
檢測器數目： 132 枚硅光電檢測器
分析通道：136 個
準確性誤差： ＜±0.5%
重復性誤差： ＜±0.5%
接口： USB
功耗： 90 - 125 VAC（≤ 6 amp）
220 - 240 VAC（≤ 3 amp）
溫度范圍： 10 - 40°C（50 - 104°F）
相對濕度：0 - 90% （無凝結）
合規性： 符合 21 CFR 第 11 部分標準要求
RoHS
認證：
– EU EMC 指令2014/30/EU
– CISPR 11:2009/A1:2010
– 澳大利亞和新西蘭法規符合性標志
數據導出文件格式： XLSX、TSV、PDF
文件導入功能： LS 13 320 和 LS 13 320 XR 的測量文件均可導入
軟件操作系統： Windows 10，64位
主機體積：
高：49.53 cm
長：93.98 cm
深：25.4 cm
主機重量： 23.5 公斤
