SAKI光學檢測設備2D AOI ，采用其獨自開發的線性掃描技術 ，利用其的線性攝像系統與同軸垂直落射照明相結合，通過簡易的機構，實現了高速、高精度、高可靠性的檢查，是在線光學檢查設備中的解決方案。
SAKI 2D AOI得益于線性掃描的設計理念，實現了緊湊的機身設計，無論是單軌還是雙軌都以同樣的裝置寛度，實現了單位面積內生產率。的線性掃描設計方式，使得裝置在運行中沒有任何振動，保證了設備的高精度性，也鑄就了設備極低的故障率。
SAKI 線掃描技術，是快速地進行全基板的掃描，是賽凱智能測試設備的基礎技術。賽凱智能采用線性照相機的攝像方式，實現了快速的檢查。
其他品牌 AOI 通過一般的測試設備所采用的分段拍攝方式，根據零部件數，基板尺寸改變檢查工作，如果進行更細微的檢查，則檢查時間會大幅度增大。
SAKI 同軸照明無陰影檢測
同軸落射照明是賽凱智能的獨自技術，是在基板全部位置上，對于檢查部件從正上方照射同軸光的技術。同軸落射照明，不受相鄰零部件大小和高低的影響，使得 SAKI 機器能夠捕捉到焊端任意角度無陰影的影像。
SAKI 高速線性掃描 2D AOI
1）SAKI 通過高精度大口徑遠心透鏡光學系統，結合豐富的算法和的同軸落射照明，不會漏掉任何檢查對象。
2）SAKI 高解析度線性掃描 AOI，可用于任何高速生產線，實現爐前、爐后、綜合檢查的全自動光學檢測機。
3）SAKI 以其豐富的軟件支持系統，滿足顧客的遠程調試、一機多聯、條碼追索、MES接入，等各種需求，保護顧客的長遠投資。
技術規格
| 機器型號 | BF-Planet-X Ⅱ | BF-Frontier Ⅱ | BF-Tristar Ⅱ | BF-10D |
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| 裝置特性 | 單面掃描測試
M 基板，最小元件 01005 | 單面掃描測試
LL 基板，最小元件 0201 | 雙面掃描同時測試
M 基板，最小元件 01005 | 雙軌、單面掃描測試
M～L 基板，最小元件 01005 |
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| 分辨率 | 10 um | 18 um / 9 um | 10 um | 10 um |
| 基板尺寸 | 60 x 50 ~ 330 x 250 mm | 60 x 50 ~ 500 x 460 mm | 60 x 50 ~ 330 x 250 mm | 單軌道 : 60 x 50 ～ 330 x 460 mm
雙軌道 : 60 x 50 ～ 330 x 250 mm |
| 基板翹曲 | ±2 mm | ±2 mm | ±1 mm | ±2 mm |
| 零部件高度 | 上面 : 40 mm 下面 : 40 mm | 上面 : 40 mm 下面 : 40 mm | 上面 : 40 mm 下面 : 30 mm | 上面 : 40 mm 下面 : 40 mm |
| 圖像掃描時間 (尺寸基板) | 約5秒 | 約5秒 | 約5秒 | 約8.5秒 |
| 主要的檢查項目 | 零部件的有無，位置偏差，橫側站立， 縱站立，表里反轉，極性反轉，橋接，
異物粘著，沒有焊錫，焊錫少，引腳漂浮， 芯片漂浮，圓角異常 |
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| 基板厚度 | 0.6 ~ 3.2 mm |
| 照相機 | CCD 線性感應器照相機 |
| 照明 | LED 同軸落射照明 |
可以連接系
統的選項 | BF-Editor | √ |
| BF-RP1 | √ |
| BF-Monitor | √ |
| BF-WebTracerII | √ |
| 2D 條形碼識別功能 | √ |
| OK/NG信號輸出 | √ |
| 涂上防濕劑檢查 | √ |
| 設備外形尺寸 W x D x H | 600 x 915 x 1270 mm | 850 x 1340 x 1230 mm | 850 x 1295 x 1130 mm | 850 x 1360 x 1380 mm
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