美國AAIOMA-300過程分析儀
品牌：美國AAI
產品描述：
立特OMA-300過程分析儀是一個二級管陣列光纖過程分光光度計，連續測量試樣的吸收光譜。它包括一個光源、一個用于選擇特定波長的色散裝置、一個取樣系統和一個檢測器。OMA使用一個鎢、氙或氘氣光源（視應用而定），一個全息光柵根據其波長來分散光，一對光纖探頭發射和接受通過流通池中試樣的光譜，使用一個二極管陣列檢測器來將光強度轉化為電信號。通過特征多波長方法連續測量和分析特征組分對特征光譜的吸收，從而計算出物流中的特征組分的濃度。 OMA-300設計旨在低成本高效率和**連續的濃度監測的在線應用。一個簡單的觸屏用戶界面是單一和多種成分分析的理想選擇，可以快速設置和標定。范圍200-1100 nm的波長可以通過2048個元件組成的二極管陣列進行連續和即時監測。分析儀的固定存儲器區包括計算方法、波長范圍和在屏幕上顯示的被分析物的名稱。標準輸出包括4-20mA輸出和數字I/O。由于分析儀使用了Modbus通信協議，可以很容易地與外部設備進行通信，如：DCS、PLC、RTU控制器等
OMA-300過程分析儀 應 用
硫化氫 氨 二氧化硫 芳烴 界面監測 硫醇
氯 添加劑 臭氧 二氧化氯(Dyox) 顏色
金屬離子 溴 過氧化氫 氧化氮 特定波長鑒定
OMA-300過程分析儀特 點
**的單一組分和多組分濃度測量 特 點
無可動部件－維護量低
光纖探頭－分體測量
友好的觸屏操作界面
Modbus 通訊協議,以太網TCP IP輸出
便于操作和維護
OMA-300過程分析儀技術規格
波長范圍 190-800nm 400-1100nm
光隙寬度 1nm
EP分辨率 > 1.6，已烷中的甲苯。
在269nm/266nm的比值吸收
波長精度 < +/-0.5nm (NIST 2034)
波長重復性 < +/-0.04nm (NIST 2034)
光度精度 +/-0.005 (NIST ′930E)
光度噪音 < 0.002AU 32 scans at 0 AU at 250nm
光度穩定性 < 0.002AU/h at 0 AU at 340nm +-10C
操作溫度 0℃-55℃ (32℉-130℉)
防爆等級 Class 1 Div.1 Group C, B & D（自選）
模擬輸出 兩個電絕緣的4-20mA
故障繼電器 兩個SPDT報警繼電器
顯示器 1/4″VGA，NEMA 4觸摸屏
LCD顯示（340×240 pixels）
功率 80-240 Volts AC; 40-60 Hz; 20 W
分析儀尺寸 16″H ×14″W × 8″D( 410×360×200)
溫度 -50℃至300℃ (-60℉至570℉)
壓力 200bar (3000psi)
溫度 -20℃至150℃ (-4℉至302℉)
壓力 10bar (147psig)標準
