絕緣電阻劣化評估系統HAST高加速老化
絕緣電阻劣化評估系統是一種信賴性試驗設備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓,經過長時間的測試(1~1000小時)并觀察線路是否有瞬間短路的現象發生,并記錄電阻值變化狀況,故又叫做CAF試驗,絕緣阻力電阻試驗,我們將其統稱為絕緣劣化試驗,可進行BHAST試驗。在高溫高濕條件下,對電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測試電阻值,也能夠進行高效率的絕緣可靠性評估。CAF是指印制線路板內部在電場作用下跨越非金屬基材而遷移傳輸的導電性金屬鹽構成的電化學遷移。它通常發生在印制線路板基材中沿玻璃纖維到樹脂的界面上,從而導致兩個相鄰的導體之間絕緣性能下降甚至造成短路,是印制線路板產生電氣故障的一個重大而且具有潛在危險的根源。
絕緣電阻劣化評估系統HAST高加速老化
應用:PCB、焊料、助焊劑、涂層材料等,GBA、DSP等,IC封裝、電容器、連接器等電子器件及材料絕緣材料吸濕特性測試評估。
特點:
·高機能:采用驅動計測測試時焊接工序大幅減少軟件設計簡單明了,直觀易操N遠程監控功能,可監控試驗過程。
·便利性高:構造裝著脫落式易進行保養交換。可同時試驗停止等聯動裝置功能,系統構成靈活。
·測試自檢功能:點檢、校正方便。
·設計精巧,不受場所限制,易移動。
·可靠性高:配有CF卡,以防設備故障數據丟失。以UPS作為系統的支撐,保證試驗的安全繼續進行。
隨著電子設備在智能化的方向及小型化、輕量化迅速發展,印制線路板的線路也越來越細,間距越來越小,絕緣層越來越薄,鉆孔尺寸也向更小更密的方向發展,并且由于信息傳輸速度的提升,使得印制板所承受的工作溫度也在不斷地上升。因此,在印制線路板的質量與可靠性測試中,CAF的測試也就變得越來越重要。
可與zonglen HAST高加速老化試驗箱配合使用,主要用于產品導通電阻性能驗證。更好的保證您PCB檢測的精度和可靠性。