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成都中冷低溫科技有限公司


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芯片動態老化測試系統

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訂  貨  量: ≥1 件

具體成交價以合同協議為準

產品型號

品       牌其他品牌

廠商性質生產商

所  在  地成都市

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更新時間：2025-04-02 15:34:06瀏覽次數：92次

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經營模式：生產廠家

商鋪產品：103條

所在地區：四川成都市

聯系人：羅林 （經理）

產品簡介

芯片動態老化測試系統，高低溫在線測試系統是為航空、航天等單位開發生產的電子元器件常溫、高溫、低溫在線測試專用設備。能使用戶在高低溫條件下對半導體分立器件、光耦、運放、電壓調節器等集成電路電子元器件實時測試，免去了以往要拿出高低溫箱再進行測試的不便及誤差。

詳細介紹

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芯片動態老化測試系統

高低溫在線測試系統是為航空、航天等單位開發生產的電子元器件常溫、高溫、低溫在線測試專用設備。能使用戶在高低溫條件下對半導體分立器件、光耦、運放、電壓調節器等集成電路電子元器件實時測試，免去了以往要拿出高低溫箱再進行測試的不便及誤差。


芯片動態老化測試系統

◆測試艙溫度范圍:-55℃至 +150℃(-65℃至 +200℃可選)

◆ 測試艙溫度穩定性:±2℃

◆ 測試艙溫度穩定均勻度:±2℃

◆ 測試艙升溫時間:從常溫升溫到+150℃用時10分鐘

◆ 測試艙降溫時間:從常溫降溫到-55℃用時20分鐘

◆ 測試艙功率:根據設定艙體溫度不同

◆ 冷卻方式:風冷機械制冷，能有效降低 工作負荷更加節能可靠性更高

◆ 可編程鍵盤:用戶可自定義測試艙溫度，或按一定比率 步進設置溫度變化及溫度循環

◆ 器件測試:多工位被測器件可單步測試也可以連續測試

◆ 接口控制:測試艙可通過IEEE總線或RS232端口程控




◆測試艙溫度范圍:-55℃至 +150℃(-65℃至 +200℃可選)

◆ 測試艙溫度穩定性:±2℃

◆ 測試艙溫度穩定均勻度:±2℃

◆ 測試艙升溫時間:從常溫升溫到+150℃用時10分鐘

◆ 測試艙降溫時間:從常溫降溫到-55℃用時20分鐘

◆ 測試艙功率:根據設定艙體溫度不同

◆ 冷卻方式:風冷機械制冷，能有效降低 工作負荷更加節能可靠性更高

◆ 可編程鍵盤:用戶可自定義測試艙溫度，或按一定比率 步進設置溫度變化及溫度循環

◆ 器件測試:多工位被測器件可單步測試也可以連續測試

◆ 接口控制:測試艙可通過IEEE總線或RS232端口程控

關鍵詞：電子元器件

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