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北方華測(蘇州)測控技術有限公司
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測試頻率 | 調節范圍30Hz到140Hz,精度:±0.1Hz | 測試載荷 | 靜態力10N,振蕩測試載荷:0.05N到0.5N可調 |
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電容測量范圍 | 10 pF到0.1 μF,精度:±2%±1 pF | 溫度范圍 | RT-650℃ |
加熱方式 | PID控制(含LVDC降噪電源) | 溫度穩定度 | ±0.05℃(>25℃),±0.1℃(<25℃) |
軟件功能 | 可設溫控速率,可設溫控程序,可記錄溫控曲線 | 試驗電壓 | DC 50V- 6KV |
試驗電壓精度 | ≤2% | 快速放電功能 | 測試結束后自動放電(DCW) |
電壓上升時間 | 0.1s — 999.9s | 測試時間設定(DC) | 0.2s — 999.9s |
測試電流 | DC 0-5mA | 電流精度 | ≤2% |
保護 | :過流保護、過壓保護、短路保護 | 電流靈敏度 | 10nA |
擊穿斷電響應 | 1ms | 電壓顯示精度 | 0.05KV |
電流顯示精度 | 10nA | 50點電極法測試工裝 | 上電極直徑25mm,倒角2.5mm,高度120mm,黃銅材料。下電極退火鋁箔下平鋪3mm厚度 |
工裝尺寸 | 500mm*350mm*80mm | 設備尺寸 | 120 mm *280 mm *100mm |
HCYD高溫壓電系數測試儀采用FPGA數字技術為激振器提供穩定的測試頻率,配合聲學與振動公司B&K生產的激振器作為振源,基于公司在弱信號采集技術的優勢,設計的一款用于高溫環境下的壓電系數測試儀器,相對傳統的d33測量儀測量精度更高,測量量程更寬,可靠性更高,操作更簡單。儀器可以直接分析得出樣品壓電常數d33隨溫度變化的壓電溫譜圖,可廣泛用于壓電材料(壓電陶瓷、高分子)、鐵電材料以及相關器件性能。
HCYD高溫壓電系數測試儀采用FPGA數字技術為激振器提供穩定的測試頻率,配合聲學與振動公司B&K生產的激振器作為振源,基于華測公司在弱信號采集技術的優勢,設計的一款用于高溫環境下的壓電系數測試儀器,相對傳統的d33測量儀測量精度更高,測量量程更寬,可靠性更高,操作更簡單。該儀器可以直接分析得出樣品壓電常數d33隨溫度變化的壓電溫譜圖,可廣泛用于壓電材料(壓電陶瓷、高分子)、鐵電材料以及相關器件性能的評價與測試。
1. 采用進口B&K進口激振器,更準確的振動頻率;
2. 采用ADA4870 驅動技術與B&K激振器匹配,閉環實現更穩定的加載力;
3. 采用主流FPGA設計,實現30Hz-140Hz寬范圍測量;
4. 采用高阻放電荷放大器,減小測量過程中的損耗,準確測量;
5. 采用直流線性加熱,減少渦流加熱噪聲;
6. 采用真空電極避免絕緣支架帶來的熱釋電電荷,引入測量系統。
1. 范圍:100到10,000 pC/N,
精度Accuracy±2%±1 pC/N;負載:1.0uF
2. 高范圍:10到1000 pC/N,
精度:±2%±1 pC/N,負載:1.0uF;
3. 低范圍:1到100 pC/N,
精度:±2%±0.1 pC/N,負載: 1.0uF;
4. 范圍:d33 0到10 pC/N,
精度:±2%±0.01 pC/N,負載: 0.1uF;
1. 測試頻率:調節范圍30Hz到140Hz,精度:±0.1Hz
2. 測試載荷:靜態力10N,振蕩測試載荷:0.05N到0.5N可調
3. 電容測量范圍:10 pF到0.1 μF,精度:±2%±1 pF
4. 溫度范圍:RT-650℃
5. 加熱方式:PID控制(含LVDC降噪電源)
6. 溫度穩定度:±0.05℃(>25℃),±0.1℃(<25℃)
7. 軟件功能:可設溫控速率,可設溫控程序,可記錄溫控曲線
8. 試驗電壓:DC 50V- 6KV
9. 試驗電壓精度:≤2%
10. 快速放電功能:測試結束后自動放電(DCW)
11. 電壓上升時間:0.1s — 999.9s
12. 測試時間設定(DC) :0.2s — 999.9s
13. 測試電流:DC 0-5mA
14. 電流精度:≤2%
15. 保護:過流保護(超過設置電流值10nA設備停止輸出)、過壓保護(超過設備設置輸出電壓50V后設備停止輸出)、短路保護(未放置樣品設備發生短路設備停止輸出)
16. 電流靈敏度:10nA
17. 擊穿斷電響應:1ms
18. 電壓顯示精度:0.05KV
19. 電流顯示精度:10nA
20. 50點電極法測試工裝:上電極直徑25mm,倒角2.5mm,高度120mm,黃銅材料。下電極退火鋁箔下平鋪3mm厚度,邵氏硬度60-70的橡皮/硅膠。要求電極表面光滑,無劃痕。
21. 工裝尺寸:500mm*350mm*80mm
22. 設備尺寸:120 mm *280 mm *100mm
高溫壓電系數測試儀在高溫測試過程中能夠除去熱釋電的影響,廣泛用于壓電材料(壓電陶瓷、高分子)、鐵電材料以及相關器件性能的評價與測試。
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