SC2520半導(dǎo)體器件參數(shù)測試儀，半導(dǎo)體器件通用電子測試儀，專為測試二三極管、齊納管、LED、MOS、IGBT、光耦、繼電器、壓敏電阻等半導(dǎo)體分立器件的靜態(tài)電學(xué)參數(shù)而研發(fā)的專用設(shè)備，廣泛用于半導(dǎo)體器件生產(chǎn)廠家進(jìn)行圓片中測或封裝成測，電子產(chǎn)品廠家IQC進(jìn)行來料檢驗(yàn)，研發(fā)部門進(jìn)行失效分析、選型配對、可靠性分析測試。系統(tǒng)可單機(jī)工作也可連接上位機(jī)電腦程控，可掃描IV曲線！

詳細(xì)介紹

半導(dǎo)體器件參數(shù)測試儀SC2520

一、半導(dǎo)體器件參數(shù)測試儀SC2520產(chǎn)品概述

半導(dǎo)體器件參數(shù)測試儀SC2520是一款通用型分立器件參數(shù)測試設(shè)備，可測試多種半導(dǎo)體器件的靜態(tài)直流參數(shù)，測試儀可單機(jī)工作，也可連接上位機(jī)程控測試，測試速度快，精度高，測試電壓達(dá)2.5KV，電流達(dá)200A，基本可以覆蓋絕大多數(shù)中小功率單管及模塊的測量，測試數(shù)據(jù)可單機(jī)實(shí)時(shí)讀取，也可上位機(jī)生成TXT或EXCEL報(bào)表導(dǎo)出，方便用戶使用。

二、產(chǎn)品功能

半導(dǎo)體器件參數(shù)測試儀SC2520主要測試半導(dǎo)體器件的種類和參數(shù)如下：

MOS：Rdson、Vfd、IGSF、IGSR、Vgth、Vdss、Idss

IGBT：Vcesat、Vfd、IGSF、IGSR、Vgth、Vces、Ices

BJT：Vcesat、hFE、BVcbo、Icbo、BVceo、Iceo、BVebo、Iebo、Vces、Ices

DIODE：Vfd、Vr

ZENER：Vfd 、Vz

TVS：Vfd 、Vz

LED：Vfd、 Vr

RES：R（針對大電流小阻值取樣電阻）

OPTO：Vfd、Ir、CTR、Iceo、Vr、BVceo、Veco

MOV：壓變電阻Vc

RELAY：Rcontact、Rcoil、V吸合、V釋放

三、技術(shù)參數(shù)

項(xiàng)目	參數(shù)	單位
電流檔 0~100mA 分辨率	0.01	mA
電流檔 100~1000mA 分辨率	0.1	mA
電流檔 1~10A 分辨率	1	mA
電流檔 10~200A 分辨率	10	mA
脈沖電流檔位	四	檔
檔位步進(jìn)	0.01	%
脈沖寬度	500	us
開路輸出電壓	≥60	V
正向壓降測量范圍	0~10	V(100-200A)
正向壓降測量范圍	0~60	V(≤100A)
柵極輸出電壓	±30	V
柵極漏電流測試范圍	600nA，±6μA ±60μA ±600μA ±6mA ±60mA ±600mA
柵極漏電流帶快速充電功能	有
耐壓電壓	0~2500	Vdc
耐壓電流	0~2μA 0~20μA 0~200μA 0~2000μA
漏電電流一鍵 zero 校零技術(shù)	漏電分辨率可達(dá) 100pA
可手動按鈕觸發(fā)，也可腳踏觸發(fā)功能	有
隔離的 RS-485 通訊端口	有
RS-485 接口升級軟件	有
供電電壓	220	VAC

四、應(yīng)用領(lǐng)域及場景

>測試分析(功率器件研發(fā)設(shè)計(jì)階段的初始測試)

>失效分析(對失效器件進(jìn)行測試，查找失效機(jī)理。以便于對電子整機(jī)的整體設(shè)計(jì)和使用過程提出改善方案)

>選型配對(在器件焊接至電路板之前進(jìn)行全部測試，將測試數(shù)據(jù)比較一致的器件進(jìn)行分類配對)

>來料檢驗(yàn)(研究所及電子廠的質(zhì)量部(IQC)對入廠器件進(jìn)行抽檢/全檢，把控器件的良品率)

>量產(chǎn)測試(可連接機(jī)械手、掃碼槍、分選機(jī)等各類輔助機(jī)械設(shè)備，實(shí)現(xiàn)規(guī)?；⒆詣踊瘻y試)

關(guān)鍵詞：分選機(jī)

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