ASC32A+太陽電池組件測試儀專為實驗室設(shè)計，采用側(cè)向直射式光源，模擬真實太陽光，覆蓋300-1200nm全光譜，脈沖寬度10ms至100ms可調(diào)，具等效脈寬技術(shù)。該設(shè)備三大核心指標超行業(yè)標準，實現(xiàn)高效晶硅電池全光譜測試，大幅提高準確性。提供五種智能掃描方法，靈活適應定制化測試需求。同時支持EL測試功能，集電性能測量與EL缺陷檢測于一體，一次接線即可完成兩種測試，滿足實驗室用戶全面需求。

詳細介紹

實驗室太陽能組件IV測試儀

ASC32A+

u 技術(shù)參數(shù)達到A+A+A+標準

u 300~1200nm全光譜

u 5種智能掃描方法

u 長脈沖：10-100ms（可調(diào)）

u 等效脈寬技術(shù)

u 配置EL測試模塊

實驗室太陽能組件IV測試儀

產(chǎn)品介紹

ASC32A+系列太陽電池組件測試儀是專門針對實驗室用戶而研發(fā)，為側(cè)向直射式光源結(jié)構(gòu)，模擬真實太陽光照射條件，滿足300-1200nm全光譜，脈沖寬度10ms至100ms可調(diào)，同時具有等效脈寬技術(shù)，100ms脈寬可等效500ms測試效果。設(shè)備滿足行業(yè)標準要求：1.A+A+A+性能；不均勻度、光譜匹配度、光強穩(wěn)定度三大核心性能指標均超過行業(yè)標準。2。全光譜；光譜范圍滿足300-1200nm范圍，實現(xiàn)高效晶硅電池的全光譜測試，測試準確性大幅提高。3.五種智能掃描方法：常規(guī)線性掃描方法、局部掃描方法、遲滯掃描方法、分段掃描方法、非線性掃描方法，操作靈活，適用于實驗室客戶定制化測試方案需求。4.支持EL測試功能，一臺機器同時具有兩種不同類型的測試功能，能夠同時滿足測量太陽電池組件的電性能與EL缺陷檢測的要求，一次接線，兩種測試。

測試對象：適用于晶體硅太陽能電池組件（PERC、N型、TOPcon以及HJT等）、支持MBB、半片、疊片等組件、支持薄膜電池組件的電性能參數(shù)的測試、缺陷檢測和結(jié)果記錄及導出。

性能特點

u A+A+A+標準：高于IEC60904-9 2020標準

u 300-1200nm全光譜：更加真實反映組件在各波段響應能力

u 適合各類電池研究、輔材研究實驗室

u 電子負載：掃描方向支持Isc→Voc和Voc→Isc兩種模式

u 智能掃描方法：常規(guī)線性掃描方法、局部掃描方法、遲滯掃描方法、分段掃描方法、非線性掃描方法

u 測量對象：PERC、N型、HJT、IBC、TOPcon、CIGS、普通晶硅等技術(shù)組件

u 輻照度：調(diào)節(jié)范圍可定制，至200 W/m2

u 支持EL測試功能：一次接線，兩種測試

技術(shù)指標

設(shè)備型號	ASC32A+
生產(chǎn)指標
產(chǎn)能	＜4S（10ms），＜18S（100ms）
max可測面積	2600mm×1600mm（典型面積）
光源方向	側(cè)打光光源
上料方式	手動
IV測試模塊指標
太陽模擬器光源等級	A+A+A+
太陽模擬器等級標準	IEC 60904-9 2020
校準方式	標準組件單次自動校準光強
光譜匹配	0.875-1.125 (A+級)
幅照度不穩(wěn)定性	STI＜0.2% LTI<1%(A+級)
幅照度不均勻性	＜1% (A+級)
光譜范圍	300-1200nm（MAX：1800nm，可定制）
閃光時間	10-100ms
輻照度范圍	200-1200W/m2(可定制)
ISC 60次重復性	＜0.2%
光源壽命	＞20W次（10ms）
測量范圍	電壓：0-200V（分辨率0.1mV）電流：0-30A（分辨率0.1mA）
測量功率	1000W（Max）