串聯(lián)諧振實驗是鑒定電力設(shè)備絕緣強(qiáng)度有效和直接的方法。
電力設(shè)備在運(yùn)行中，絕緣長期受著電場、溫度和機(jī)械振動的作用會逐漸發(fā)生劣化，其中包括整體劣化和部分劣化，形成缺陷。例如由于局部地方電場比較集中或者局部絕緣比較脆弱就存在局部的缺陷。各種預(yù)防性實驗方法，各有所長，均能分別發(fā)現(xiàn)一些缺陷，反應(yīng)出絕緣的狀況，但其他試驗方法的試驗電壓往往都低于電力設(shè)備的工作電壓，作為安全運(yùn)行的保證還不夠有力。直流耐壓試驗雖然試驗電壓較高，能發(fā)現(xiàn)一些絕緣的弱點(diǎn)，但是由于電力設(shè)備的絕緣大多數(shù)都是組合電介質(zhì)，在直流電壓的作用下，其電壓是按電阻分布的，所以交流電力設(shè)備在交流電場下的弱點(diǎn)使用直流作實驗就不一定能夠發(fā)現(xiàn)，例如發(fā)電機(jī)的槽部缺陷在直流下就不易被發(fā)現(xiàn)。交流耐壓試驗符合電力設(shè)備在運(yùn)行中所承受的電氣狀況，同時交流耐壓試驗電壓一般比運(yùn)行電壓高，因此通過實驗后，設(shè)備有較大的安全裕度，所以這種試驗已成為保證安全運(yùn)行的一個重要手段。
但是由于串聯(lián)諧振試驗所采用的試驗電壓比運(yùn)行電壓高的多，過高的電壓會使絕緣介質(zhì)損失增大、發(fā)熱、放電，會加速絕緣缺陷的發(fā)展，因此，某種意義上來講，串聯(lián)諧振實驗是一種破壞性試驗。
在進(jìn)行串聯(lián)諧振試驗之前，必須預(yù)*行各項非破壞性試驗，如測量絕緣電阻、吸收比、介質(zhì)損耗因素tanδ、直流泄露電流等，對各項試驗結(jié)果進(jìn)行綜合分析，以決定該設(shè)備是否受潮或有缺陷。若發(fā)現(xiàn)已存在問題，需預(yù)*行處理，待缺陷消除后，方可進(jìn)行串聯(lián)諧振試驗，以免在實驗過程中，發(fā)生絕緣擊穿，擴(kuò)大絕緣缺陷，延長檢修時間，增加檢修工作量。
會員1.png)