菲希爾XUL（M）膜厚儀

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更新時間：2017-09-14 23:01:40瀏覽次數：587次

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產品簡介

菲希爾XUL（M）膜厚儀它特別為快速無損地分析珠寶首飾、貴金屬而設計。這些首飾和貴金屬包括黃白金，鉑和銀，銠，硬幣以及所有的首飾合金和鍍層

詳細介紹

菲希爾XUL（M）膜厚儀測量電鍍、蒸鍍、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度。
＊可通過CCD攝像機來觀察及選擇任意的微小面積以進行微小面積鍍層厚度的測量，避免直接接觸或破壞被測物。使用安全簡便，堅固耐用節省維護費用。而且，它符合標準DIN ISO 3497 和 ASTM B 568。高分辨硅-PIN-接收器，配合快速信號處理系統能達到*的精確度和非常低的檢測限。只需短短數秒鐘，所有從17號元素氯到92號元素鐳的所有元素都能準確測定.可測量：單一鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
三元合金層：例如Ni上的AuCdCu合金。
雙鍍層：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
雙鍍層，其中一個鍍層為合金層：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。
菲希爾XUL（M）膜厚儀應用于.五金,電鍍,端子.連接器.金屬等多個領域.讓客戶滿意是我們金東霖科技始終的目標.：王生：：地址：寶安中心區宏發中心大廈

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