GS2690C變頻介質(zhì)損耗測試儀是一種*的測量介質(zhì)損耗（tgδ）和電容容量（Cx）的儀器，用于工頻高壓下，測量各種絕緣材料、絕緣套管、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設備的介質(zhì)損耗（tgδ）和電容容量（Cx）。它淘汰了QSI高壓電橋，具有操作簡單、中文顯示、打印、使用方便、無需換算、自帶高壓，抗*力強，測試時間短等優(yōu)點，是我公司的第三代智能化介質(zhì)損耗測試儀。

詳細介紹

一、介質(zhì)損耗測試儀概述：

GS2690C變頻介質(zhì)損耗測試儀是一種*的測量介質(zhì)損耗（tgδ）和電容容量（Cx）的儀器，用于工頻高壓下，測量各種絕緣材料、絕緣套管、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設備的介質(zhì)損耗（tgδ）和電容容量（Cx）。它淘汰了QSI高壓電橋，具有操作簡單、中文顯示、打印、使用方便、無需換算、自帶高壓，抗*力強，測試時間短等優(yōu)點，是我公司的第三代智能化介質(zhì)損耗測試儀。

二、介質(zhì)損耗測試儀特點：

儀器為升壓與測量一體化結(jié)構(gòu)，輸出電壓2.5KV~10KV五檔可調(diào)，以適應各種需要，在測量時無需任何外部設備。接線與QSI電橋相似，但比其方便。

標準回路由內(nèi)置高壓穩(wěn)定度標準電容器與標準電阻網(wǎng)絡組成，由計算機實時采集標準回路電流與測試回路的電流幅值及其相位差，并由之算出被測試品電容容值（CX）和其介質(zhì)損耗（tgδ）。

數(shù)據(jù)采集電路全部采用高壓穩(wěn)定器件，采集板和采集計算機被鐵盒*浮空屏蔽，儀器外殼地屏蔽；另外使用了光導數(shù)據(jù)、浮空地、大面積地、單點地、數(shù)字濾波等抗干擾技術(shù)，加之計算機對數(shù)百個電網(wǎng)周期的數(shù)據(jù)進行處理，使測量結(jié)果穩(wěn)定、精確、可靠。

三、介質(zhì)損耗測試儀技術(shù)參數(shù)：

1、抗干擾方式：變頻抗干擾

2、測試方式：正接法反接法自激法外接法

3、測量范圍：

電容量：內(nèi)接高壓 <3pF~60000pF/10kV 60pF~1μF/0.5kV

外接高壓 3pF~0.3μF/10kV zui小分辨率 0.01pF 有效數(shù)字五位

介損：不限,zui小分辨率0. 01%

4、準確度：

電容量：±(1.5%讀數(shù)+2pF) 介損：±(2%讀數(shù)+0.09%)

內(nèi)接試驗電源：0.5~10kV 電壓緩升緩降 45、50、55、60、65Hz單頻

45/55Hz自動雙頻測試 zui大輸出電流200mA

自激電源3~50V變頻 zui大輸出電流20A