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北京市卓川電子科技有限公司
主要用于半導體硅晶片檢測、LCD液晶屏檢測、實驗室材料分析及其他精密工程檢測領域,可對樣品進行明場、暗場及簡易偏光觀察。工業檢測金相顯微鏡
產品標題 | 工業檢測金相顯微鏡 金相顯微鏡 工業檢測顯微鏡 | ||
型號 | BY.36-MX-6R | ||
圖片 | |||
簡介 | 主要用于半導體硅晶片檢測、LCD液晶屏檢測、實驗室材料分析及其他精密工程檢測領域,可對樣品進行明場、暗場及簡易偏光觀察。 儀器介紹 1)系統采用無限遠平場消色差、長工作距、明暗場兩用物鏡,成像清晰、像面平坦 2)配備反射式柯拉照明系統,為不同倍率的物鏡提供均勻充足的照明 3)正像三通觀察筒,25°傾斜,*的提高了觀察的舒適性與操作的適應性 4)配備了6”帶離合器機械平臺,行程158*158mm,可快速移動 5)人機學設計,高剛性鏡臂,“Y”型底座,調焦機構采用前置式操作控制,粗微調同軸 6)光源采用寬電壓數字調光技術,具有光強設定與復位功能 7)可選配攝影攝像裝置、簡易偏光裝置、干涉濾光片、測微尺等附件,拓展應用領域 技術參數 光學系統: 無限遠色差校正光學系統 物鏡: 無限遠平場消色差,長工作距金相物鏡(明暗場兩用),5X、10X、20X、50X、80X、 目鏡: 高眼點平場目鏡,PL10X,線視場φ22mm 高眼點平場目鏡,PL15X,線視場φ16mm 觀察筒: 正像,鉸鏈式三目,25°傾斜,分光比:雙目*,三目* 照明系統: 反射式柯拉照明,明暗場切換,帶簡易偏光接口,12V/100W鹵素燈,預置中心采用數字調光,具有光強設定與復位功能,帶針孔光闌 調焦機構: 粗微調同軸,帶粗調上限位、松緊調節裝置和隨機限位裝置 粗調行程:33mm(焦后1mm),微調精度:0.001mm zui大樣品高度:32mm 物鏡轉換器: 內定位、內傾式、五孔、明暗場兩用物鏡轉換器 載物臺: 6英寸矩形,機械移動平臺200mBY.36-MX200mm,移動行程:158mBY.36-MX158mm 低位同軸調節,帶離合器控制手柄,可快速移動 機架: 全新的人機工程學設計,高剛性鏡臂,“Y”型底座,前置式操作控制 選購附件: 攝影攝像裝置、簡易偏光裝置、干涉濾光片、測微尺等 |
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