刻痕余量檢測儀

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產品型號XP.22-KY500-Ⅲ

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更新時間：2016-01-18 14:08:14瀏覽次數：303次

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北京市卓川電子科技有限公司

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產品簡介

刻痕余量檢測儀
采用了光學定位，光學檢測的光學系統，視頻顯示“刻痕"圖像，數碼顯示“餘量"數值，準確檢測易拉蓋，全開蓋的刻痕餘量。本檢測儀系無接觸測量，無破壞檢測，具有水平的電子光學檢測儀器。

詳細介紹

產品標題
刻痕余量檢測儀北京
型號
XP.22-KY500-Ⅲ
圖片
簡介
刻痕余量檢測儀采用了光學定位，光學檢測的光學系統，視頻顯示“刻痕”圖像，數碼顯示“餘量”數值，準確檢測易拉蓋，全開蓋的刻痕餘量。本檢測儀系無接觸測量，無破壞檢測，具有水平的電子光學檢測儀器。
儀器的主要結構：
本儀器由微小平臺定位，由光學顯微系統作為檢測的識別機構，并由光電圖像轉換器將“刻痕”的圖像信息傳輸到顯示器，在顯示器屏幕上把刻痕凹槽底面的圖像清晰地顯現在您的面前。儀器的照明系統採用了光纜冷光源，其照明亮度可以調整。光柵微米傳感器把刻痕餘量數值變為電信號傳輸給數碼顯示器實現數值數碼顯示。由於機器所採用的高精尖檢測技術而可靠地保證了檢測結果的準確性。
主要技術參數
放大倍率：650x;單色顯示器：10“;
分辨率：0.001;工作臺：100X100;
重現性：±0.002;移動范圍：橫30;縱30;
水平視場：0.225;光源：12V20W;
電源：220V50Hz.單色CCD：1/3”;