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2024年06月27日 16:17赫爾納貿(mào)易(大連)有限公司點(diǎn)擊量:225
Jandel可變高度測試臺(Automatic)Multiheight
公司簡介:
英國Jandel公司成立于1967年,專注于四探針探頭和測試儀器生產(chǎn),其精準(zhǔn)的測試結(jié)果以及精密的設(shè)計(jì)贏得國際同行的高度認(rèn)可和推崇。目前各種不同形狀、規(guī)格的四探針探頭已成為眾多國際一線四探針測試儀生產(chǎn)廠家的核心部件。
產(chǎn)品類別:
jandel可變高度測試臺
jandel多位晶片測試臺
jandel四探針測試儀專用圓柱形探頭
jandel微定位測試臺
jandel多用型測試臺
主要型號:
(Automatic)Multiheight
產(chǎn)品介紹:
l 應(yīng)用廣泛,可測量薄膜、晶片以及錠
l Z軸可變高度
l Automatic Multiheight(AFPP)配有壓力傳感器,探針與樣品接觸時(shí)自動(dòng)停止功能,避免超壓保護(hù)樣品和探針
優(yōu)勢特點(diǎn):
l 樣品:尺寸直徑不超過250mm的樣品(可選擇直徑為300mm的樣品,無需額外費(fèi)用)
l 樣品:厚度可測量高達(dá)250mm的樣品(如有要求,可測量更高的樣品)
l 微動(dòng)開關(guān)防止探針與樣本不接觸時(shí)電流流動(dòng)
l 手動(dòng)控制探針接觸和拆卸的簡單杠桿操作
l 簡單設(shè)置單線連接探針支架和測量電子設(shè)備
l 安裝孔可選樣品臺
jandel可變高度測試臺主要應(yīng)用:
半導(dǎo)體電阻率測量
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