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PIER-ELECTRONIC反射光度計的工作原理

2025年03月12日 15:10北京漢達森機械技術(shù)有限公司點擊量:137

  PIER-ELECTRONIC反射光度計的具體信息目前尚不明確,因為PIER-ELECTRONIC主要以高頻電源、射頻發(fā)生器和等離子體設(shè)備聞名,而反射光度計通常屬于光學(xué)測量設(shè)備的范疇。如果PIERELECTRONIC確實提供反射光度計產(chǎn)品,可能是其產(chǎn)品線的一個擴展或定制化解決方案。

  反射光度計的工作原理

  光源發(fā)出特定波長的光,照射到樣品表面。

  樣品表面反射的光被探測器接收。

  儀器通過分析反射光的強度和波長,計算出反射率、色度等參數(shù)。

  數(shù)據(jù)通過軟件進行處理和顯示。

  反射光度計的關(guān)鍵參數(shù)

  波長范圍:

  通常覆蓋可見光范圍(380nm-780nm),部分設(shè)備可擴展至紫外或紅外區(qū)域。

  測量幾何:

  包括鏡面反射(光澤度測量)和漫反射(顏色測量)等模式。

  精度:

  高精度設(shè)備可達到ΔE<0.1(色差單位)。

  光源類型:

  常用光源包括鹵素燈、LED和氙燈。

  探測器類型:

  常用探測器包括光電二極管陣列和CCD傳感器。

  反射光度計的應(yīng)用

  材料科學(xué):

  測量涂層、薄膜和金屬表面的反射特性。

  印刷與包裝:

  用于顏色質(zhì)量控制,確保印刷品的一致性。

  紡織行業(yè):

  測量織物的顏色和光澤度。

  光學(xué)制造:

  測試光學(xué)元件的反射率和透射率。

  科研實驗:

  用于光學(xué)特性研究和材料開發(fā)。

  PIER-ELECTRONIC的反射光度計適用于控制固體,例如木材、礦物或顆粒。該產(chǎn)品用合適波長的光照射。光度計通過光譜評估待測材料反射的光:

  傳送帶上的反射光度計

  測量的原始數(shù)據(jù)被傳輸?shù)皆u估設(shè)備,在那里它被轉(zhuǎn)換為所需的值,例如水分、濃度或厚度。

  PIER-ELECTRONIC的反射光度計用于各種工業(yè)領(lǐng)域的質(zhì)量控制。典型應(yīng)用包括:

  沙子、谷物、木材、聚合物等的水分測量

  粗鹽中某些礦物質(zhì)的濃度測量

  涂層、薄膜和薄膜的厚度測量

  糖白度的測定


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