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上海迅星電子科技有限公司
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成像平板探測器的設計一般的X射線數字成像基于新的千兆位以太網接口，圖像顯示在用戶提供的工作站。
成像平板探測器的設計一般的X射線數字成像基于新的千兆位以太網接口，圖像顯示在用戶提供的工作站。
圖像基礎上的應用采集從zui終用戶的工作站或筆記本電腦上運行具有影像成像質量高，超薄的探測板，圖像清晰等特點，DR平板探測器是目前X射線X光影像成像設備中，zui清晰的影像成像設備。
應用領域、DR平板探測器被廣泛應用于：科研工業、X射線無損檢測成像，醫學攝影、造影的行業。
可檢測：IC、BGA、電容、電阻、二極管、三極管、塑料氣泡、金屬、鑄件裂縫等。
插頭、開關內部結構；水筆頭內部結構；鋰電池頂部焊接；電池外殼裂縫；塑料件、橡膠件內部氣孔；開門鎖定內部構造等。
接收器類型：非晶硅
有效像素：2560*3062
空間分辨率：140um*140um
灰階值：16384
A/D轉換：14bit
能量標準范圍：40-150KVP
填充因子：*
圖像尺寸：35*43cm
外形尺寸：460*384*15mm
數據輸出：千兆位以太
工作溫度：10-40度
工作濕度：20-75%
抗震性：高級抗震
本產品為上海迅星電子科技有限公司研發!
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