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上海迅星電子科技有限公司
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成像平板探測器的設計一般的X射線數字成像基于新的千兆位以太網接口，圖像顯示在用戶提供的工作站。
瓦里安平板探測器
成像平板探測器的設計一般的X射線數字成像基于新的千兆位以太網接口，圖像顯示在用戶提供的工作站。
圖像基礎上的應用采集從zui終用戶的工作站或筆記本電腦上運行具有影像成像質量高，超薄的探測板，圖像清晰等特點，DR平板探測器是目前X射線X光影像成像設備中，zui清晰的影像成像設備。
應用領域、DR平板探測器被廣泛應用于：科研工業、X射線無損檢測成像，醫學攝影、造影的行業。
可檢測：IC、BGA、電容、電阻、二極管、三極管、塑料氣泡、金屬、鑄件裂縫等。
插頭、開關內部結構；水筆頭內部結構；鋰電池頂部焊接；電池外殼裂縫；塑料件、橡膠件內部氣孔；開門鎖定內部構造等。
功能：
1、檢測IC、BGA、芯片、開關、連接線、插頭等電子元件內部結構（位置是否偏移、變形；是否脫焊；是否斷裂等現象）；
2、檢測皮鞋、皮包是否有異物（鞋底、鞋面、包內及包表面非位置有鐵釘、針脫落在內）；
3、內部是否有氣孔；內部線材是否斷裂；焊接處是否焊牢；
內部線材是否在位置；
內部是否有金屬雜質，從而導致短路；
本產品為上海迅星電子科技有限公司研發!
為了對客戶負責，我們希望客戶能寄樣品或者帶樣品到我公司檢測，確認效果后再購買本設備。我們會以的服務呈現給您！
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