詳細(xì)摘要: 芯片可靠性測(cè)試 QTG20-CL是一款用于非接觸式智能卡模塊/條帶的高低溫壽命測(cè)試和早期失效率評(píng)估測(cè)試的硬件設(shè)備,與CSC STG1001智能卡測(cè)試平臺(tái)配合使用...
產(chǎn)品型號(hào):所在地:北京市更新時(shí)間:2023-04-23 在線留言通信電纜 網(wǎng)絡(luò)設(shè)備 無(wú)線通信 云計(jì)算|大數(shù)據(jù) 顯示設(shè)備 存儲(chǔ)設(shè)備 網(wǎng)絡(luò)輔助設(shè)備 信號(hào)傳輸處理 多媒體設(shè)備 廣播系統(tǒng) 智慧城市管理系統(tǒng) 其它智慧基建產(chǎn)品