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行業(yè)產(chǎn)品

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北京金三航科技發(fā)展有限公司


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集成電路測試儀綜合工作站

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參  考  價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號(hào)AT256 A4

品       牌其他品牌

廠商性質(zhì)代理商

所  在  地北京市

聯(lián)系方式:劉崢查看聯(lián)系方式

更新時(shí)間:2023-07-22 13:55:27瀏覽次數(shù):359次

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經(jīng)營模式:代理商

商鋪產(chǎn)品:268條

所在地區(qū):北京北京市

聯(lián)系人:劉崢 (銷售經(jīng)理)

產(chǎn)品簡介

英國abi_AT256 A4集成電路測試儀綜合工作站具備二維集成電路V-I動(dòng)態(tài)阻抗端口測試通道:256路;二維電路板V-I動(dòng)態(tài)阻抗端口測試通道:64路(可擴(kuò)充至2048路);三維掃頻V-I-F動(dòng)態(tài)阻抗端口測試通道:64路(可擴(kuò)充至2048路)

詳細(xì)介紹

產(chǎn)品內(nèi)容:

英國abi_AT256 A4

集成電路測試儀綜合工作站通道配置:

二維集成電路V-I動(dòng)態(tài)阻抗端口測試通道:256路

二維電路板V-I動(dòng)態(tài)阻抗端口測試通道:64/128/192/256路(可擴(kuò)充至2048路)

三維掃頻V-I-F動(dòng)態(tài)阻抗端口測試通道:64/128/192/256路(可擴(kuò)充至2048路)

功能用途:

1)集成電路的來料質(zhì)量控制檢測與篩選、一致性檢測;

2)快速篩選仿制集成電路及元器件;

3)對(duì)不良器件進(jìn)行三維動(dòng)態(tài)阻抗失效分析;

4)非加電條件下對(duì)集成電路、電路板進(jìn)行全面的端口動(dòng)態(tài)阻抗測試分析;

5)快速準(zhǔn)確定位失效集成電路故障管腳,高效查找故障電路板的失效I/O管腳;

6)測試安全可靠,全面解決器件工藝、電路板工藝問題,快速解決集成電路及電路板故障點(diǎn)定位問題;

7)進(jìn)行集成電路和電路板阻抗一致性檢測;

8)配合測控平臺(tái)軟件,實(shí)現(xiàn)集成電路、電路板定制化和自定義編程測試。

技術(shù)規(guī)格:

1)256路二維集成電路V-I端口動(dòng)態(tài)阻抗測試通道;

2)64/128/192/256路二維電路板V-I端口動(dòng)態(tài)阻抗測試通道;

3)64/128/192/256路V-I-F三維立體動(dòng)態(tài)阻抗測試通道;

4)4路探筆測試,4路V-T/V-T-F測試通道;

5)顯示圖形模式:V-I, V-T, V-I-F, V-T-F;

6)可定制各種封裝通用集成電路測試治具;

7)可定制各種電路板I/O接口測試治具;

8)系統(tǒng)提供測試自定義報(bào)告輸出;中英文測試操作軟件;

9)設(shè)備可以64通道為步進(jìn)擴(kuò)充到2048組測試通道。

英國abi_AT256 A4集成電路測試儀綜合工作站測試原理(V-I曲線測試):

對(duì)元器件的每個(gè)管腳施加一個(gè)安全的低功率的掃描驅(qū)動(dòng)信號(hào),產(chǎn)生一個(gè)阻抗特征圖,以備對(duì)比和存儲(chǔ)。

被測器件和數(shù)據(jù)庫中標(biāo)準(zhǔn)動(dòng)態(tài)阻抗圖相比對(duì),阻抗圖的差異大小即可判斷元件的好壞和可用性。

測試信號(hào)可設(shè)定的參數(shù)包括: 電壓、波形、源電阻、頻率。可根據(jù)需要進(jìn)行調(diào)整以便得到準(zhǔn)確的信息。

集成電路測試操作如此簡單:

1.從數(shù)據(jù)庫選擇要測試的集成電路型號(hào).

2.將集成電路插入測試座.

3.執(zhí)行測試

4.得到PASS或FAIL的測試結(jié)果.

不需要電子知識(shí).

適用于所有集成電路/封裝件.及各種類型電路板.

靈活、好安裝、宜操作.

測試結(jié)果直接: PASS或FAIL.

軟件可設(shè)定各種測試條件.

可提供完整的集成電路自定義測試分析報(bào)告.

英國ABI-AT256 A4全品種集成電路測試儀適合不同封裝形式的元件:

-雙列插腳(DIL)

-小型封裝集成集成電路(SOIC)

-小型封裝(SSOP, TSOP)

-塑料無引線芯片載體封裝(PLCC)

-四方扁平封裝(TQFP, PQFP, LQFP)

-球門陣列封裝(BGA)

注意: AT256 A4不受限于只能測試電子集成電路, 也可用于整個(gè)電路板的測試。

三維立體V-I-F動(dòng)態(tài)阻抗端口測試

AT256 A4內(nèi)圖1

AT256 A4測試報(bào)告

AT256 A4內(nèi)圖2

北京金三航科技發(fā)展有限公司(英國ABI技術(shù)服務(wù)中心)提供:

集成電路測試儀,集成電路篩選測試儀,元器件篩選測試儀,元器件檢測儀,三維立體動(dòng)態(tài)阻抗測試儀的使用技術(shù)培訓(xùn)服務(wù),測試程序開發(fā)編譯服務(wù)。








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