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三豐粗糙度輪廓測量儀

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更新時間:2022-08-23 12:34:19瀏覽次數:295次

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產品簡介

Formtracer(表面粗糙度/輪廓測量裝置)SV-C3100/SV-C4100商品簡介:大幅提高的驅動速度(X軸:80mm/s,Z2軸立柱:20mm/s)進一步減少了總的測量時間

詳細介紹

                      

 

Formtracer(表面粗糙度/輪廓測量裝置)SV-C3100/SV-C4100


商品簡介:大幅提高的驅動速度(X軸:80mm/s,Z2軸立柱:20mm/s)進一步減少了總的測量時間。為了更長時間地保持直線度,三豐公司采用了抗老化且極耐磨的非常堅固的陶瓷導軌;驅動器(X軸)和立柱(Z2軸)均配備了高精度線形編碼器(其中Z2軸上為ABS型)。因此,在垂直方向對小孔連續自動測量、對較難定位部件的重復測量的重復精度得以提高。


詳細描述
Formtracer(表面粗糙度/輪廓測量裝置)SV-C3100/SV-C4100
525系列—表面粗糙度/輪廓測量儀
特點
大幅提高的驅動速度(X軸:80mm/s,Z2軸立柱:20mm/s)進一步減少了總的測量時間。
為了更長時間地保持直線度,三豐公司采用了抗老化且極耐磨的非常堅固的陶瓷導軌;
驅動器(X軸)和立柱(Z2軸)均配備了高精度線形編碼器(其中Z2軸上為ABS型)。因此,在垂直方向對小孔連續自動測量、對較難定位部件的重復測量的重復精度得以提高。

表面粗糙度測量
直線度:±(0.05+0.001L)μm*專用于需要高精度測量的工件。
*S4型、H4型、W4型;L為驅動長度(mm)
符合JIS'82/'94/'01,ISO,ANSI,DIN,VDA等表面粗糙度的國際標準。
標準配置:高精度測頭(0.75mN/4mN測力),分辨率高至0.0001μm。

自動測量
在與CNC機型配套使用的眾多外設選件的支持下,可實現自動測量。

輪廓驅動測量
X軸精度:±(0.8+0.01L)μm*Z1軸精度:±(0.8+I0.5HI/25)μm*專用于需要高精度測量的工件。
*SV-C4100S4型、H4型、W4型;L為驅動長度,H為測量高度(mm)
SV-C4100系列的輪廓驅動器配備了激光全息測微計測頭,Z1軸寬/窄范圍均能達到的精度和分辨率。

基本技術參數:
基座尺寸(WxH):750x600mm或1000x450mm
基座材料:花崗巖
重量
主機:140kg(S4),150kg(H4),220kg(W4)
140kg(S8),150kg(H8),220kg(W8)
控制器:14kg
遙控箱:0.9kg
電源:100–240VAC±10%,50/60Hz
能耗:400W(主機)

輪廓測量技術參數:
X軸
測量范圍:100mm或200mm
分辨率:0.05μm
檢測方法:反射型線性編碼器
驅動速度:80mm/s、外加手動
測量速度:0.02-5mm/s
移動方向:向前/向后
直線度:0.8μm/100mm,2μm/200mm
*以X軸為水平方向上
直線位移:±(1+0.01L)μm(SV-C3100S4,H4,W4)
精度(20°C時)±(0.8+0.01L)μm(SV-C4100S4,H4,W4)
±(1+0.02L)μm(SV-C3100S8,H8,W8)
±(0.8+0.02L)μm(SV-C4100S8,H8,W8)
*L為驅動長度(mm)
傾角范圍:±45°
Z2軸(立柱)
垂直移動:300mm或500mm
分辨率:1μm
檢測方法:ABSOLUTE線性編碼器
驅動速度:0-20mm/s、外加手動
Z1軸(檢測器)
測量范圍:±25mm
分辨率:0.2μm(SV-C3100),
0.05μm(SV-C4100)
檢測方法:線性編碼器(SV-C3100),
激光全息測微計(SV-C4100)
直線位移:±(2+I4HI/100)μm(SV-C3100)
精度(20°C時)±(0.8+I0.5HI/25)μm(SV-C4100)
*H:基于水平位置的測量高度(mm)
測針上/下運作:弧形移動
測針方向:向上/向下
測力:30mN
跟蹤角度:向上:77°,向下:87°
(使用配置的標準測頭,依表面粗
糙度而定)
測針針尖半徑:25μm、硬質合金

表面粗糙度測量的技術參數:
X1軸
測量范圍:100mm或200mm
分辨率:0.05μm
檢測方法:線性編碼器
驅動速度:80mm/s
移動方向:向后
直線度:(0.05+1.5L/1000)μm(S4,H4,W4型)
0.5μm/200mm(S8,H8,W8型)
Z2軸(立柱)
垂直移動:300mm或500mm
分辨率:1μm
檢測方法:ABSOLUTE線性編碼器
驅動速度:0-20mm/s、外加手動
檢測器
范圍/分辨率:800μm/0.01μm,80μm/0.001μm,
8μm/0.0001μm
(2400μm使用測頭選件)
檢測方法:無軌/有軌測量
測力:4mN或0.75mN(低測力型)
測針針尖:金剛石、90o/5μmR
(60o/2μmR:低測力型)
導頭曲率半徑:40mm
檢測方法:差動電感式

軟件選件
DUALTRACEPAK
測量裝置可自動運行,安裝了表面粗糙度驅動裝置后,表面粗糙度分析程序SURFPAK-SV自動啟動。同樣,安裝了輪廓驅動裝置后,形狀分析程序FORMPAK-1000也自動啟動。即使Formtracer已關閉,離線分析所需程序仍可從屏幕菜單中選出并運行。

ForMTRACEPAK
使用該軟件可以控制馬達驅動的Y軸工作臺和旋轉臺選件,從而實現自動測量。使用該軟件還可以進行輪廓評估,這項評估包括對級差,角度,深度,面積和其他基于表面粗糙度數據的特性進行分析。另外,還可以通過設置打印格式建立原始檢測證書,以適應不同的需求。

性能參數:


型號

SV-C3100S4

SV-C3100S4

SV-C3100H4

SV-C3100H4

SV-C3100W4

SV-C3100W4

貨號(mm)

525-421-1*

525-421-2*

525-422-1*

525-422-2*

525-423-1*

525-423-2*

貨號(inch)

525-431-1*

525-431-2*

525-432-1*

525-432-2*

525-433-1*

525-433-2*

 

型號

SV-C4100S4

SV-C4100S4

SV-C4100H4

SV-C4100H4

SV-C4100W4

SV-C4100W4

貨號(mm)

525-461-1*

525-461-2*

525-462-1*

525-462-2*

525-463-1*

525-463-2*

貨號(inch)

525-471-1*

525-471-2*

525-472-1*

525-472-2*

525-473-1*

525-473-2*

X1軸測量范圍

100mm

100mm

100mm

100mm

100mm

100mm

檢測器測力

0.75mN

4mN

0.75mN

4mN

0.75mN

4mN

垂直移動

300mm電動立柱

500mm電動立柱

500mm電動立柱

花崗巖基座尺寸(WxD)

610x450mm

610x450mm

1000x450mm

尺寸(主機、WxDxH)

996x575x966mm

996x575x1176mm

1396x575x1176mm

重量(主機)

140kg

150kg

220kg

  
  

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