詳細摘要: 簡要描述: 使用顯微光譜法在微小區域內通過反射率進行測量,可進行高精度膜厚度 光學常數分析。 可通過非破壞性和非接觸方式測量涂膜的厚度,例如各種膜、晶片、光學材...
產品型號:所在地:深圳市更新時間:2023-07-04 在線留言通信電纜 網絡設備 無線通信 云計算|大數據 顯示設備 存儲設備 網絡輔助設備 信號傳輸處理 多媒體設備 廣播系統 智慧城市管理系統 其它智慧基建產品
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詳細摘要: 簡要描述: 使用顯微光譜法在微小區域內通過反射率進行測量,可進行高精度膜厚度 光學常數分析。 可通過非破壞性和非接觸方式測量涂膜的厚度,例如各種膜、晶片、光學材...
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