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溫控樣品池支架(光譜分析用)

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產品簡介

詳細介紹

溫控樣品池支架(光譜分析用)

精確溫度制冷控制:-10.00 to +105.00 oC(±0.02 oC)

(特殊產品可降至-55.00 oC或者升至+150.00 oC)

產品特點:

l 制冷控制可實現(xiàn)快速、準確地溫度控制

l 快速提升溫度,然后緩慢靠近設置區(qū)域

l 工作溫度范圍非常寬

l 能夠自動改變溫度

l 電磁攪拌使樣品更加均勻

l 多樣品池支架并且實現(xiàn)樣品自動轉換

l 熱敏探頭記錄樣品內部溫度

qpodTM 光纖光譜儀配套樣品池支架

qpodTM 樣品池支架應用于光纖光譜儀,包括帶電磁攪拌的Peltier控制的樣品池支架。qpodTM 樣品池支架通過SMA905光纖接頭與光源或者光譜儀相連接。具有如下特點:

l 高品質的石英透鏡,紫外增強反射鏡和偏振片

l 光學部件的焦距和位置可調

l 光學狹縫用于控制進入樣品室的光能

l 12.5mm直徑的濾光片支架用于安裝透鏡組件

l 速度可調電磁攪拌

qpodTM 樣品池支架有CUV-qpod-ABSKITCUV-qpod-FLKITCUV-qpod-MPKIT三款樣式。CUV-qpod-ABSKIT提供準直光,用于吸收測試、透射測試或者濁度測試。CUV-qpod-FLKIT提供直角成像透鏡系統(tǒng),用于熒光測試。CUV-qpod-MPKIT是一款多用途的光學支架,可以用于吸收測試或熒光測試。濾光片和偏光鏡架可選配。

TLC 40 用于吸收測量的單樣品池支架

TLC 40樣品池支架主要應用于吸收光譜測量,在放置比色皿兩旁有兩個光學端口。具有如下特點:

l 可以滿足各種不同的分光光譜儀

l 可調電磁攪拌確保樣品均勻

l 工作于低溫條件,可用干氣體減少冷凝

l 工作于較低溫度條件,可選窗口翻蓋

TLC 42 用于雙光束光譜儀的兩樣品池支架

TLC 42為雙光束樣品池支架,類似于兩個單獨控制的TLC40單樣品池支架。具有如下特點:

l 采樣與參考可以是相同或不同溫度

l 每個樣品池支架具有電磁攪拌

l 工作于低溫條件,可用干氣體減少冷凝

l 工作于較低溫度條件,可選窗口翻蓋

TLC 50 用于熒光測量的兩樣品池支架

TLC 50樣品池支架主要應用于熒光光譜測量,在放置比色皿四面均有光學端口。具有如下特點:

l 可以滿足各種不同的熒光光譜儀

l 包括一套可選狹縫,以控制激光發(fā)射強度

l 可調電磁攪拌確保樣品均勻

l 工作于低溫條件,可用干氣體減少冷凝

TURRET 400 用于吸收和熒光測量的四位旋轉樣品池支架

TURRET 400樣品池支架可以應用于吸收光譜和熒光光譜測量,可以實現(xiàn)四位旋轉。具有如下特點:

l 可以滿足各種不同的分光光譜儀和熒光光譜儀

l 包括一套可選狹縫

l 可調電磁攪拌確保樣品均勻

l 工作于低溫條件,可用干氣體減少冷凝

l 四位對稱相同,保證分析樣品一致

FLASH 300 用于激光測試的樣品池支架

FLASH 300樣品池支架非常適用于激光測試,可以應用于瞬態(tài)吸收、熒光和脈沖激光測試。在放置比色皿四面均有光學端口。具有如下特點:

l 垂直調整,可以與激光束的高度相匹配

l 水平微控制器驅動,可以將激光束準確定位在比色皿中

l 插銷可移除,以實現(xiàn)與比色皿直接接觸

l 可調電磁攪拌確保樣品均勻

l 工作于低溫條件,可用干氣體減少冷凝

l 工作于較低溫度條件,可選窗口翻蓋

CD 250 用于圓形二色性測試的樣品池支架

CD 250樣品池支架用于圓形二色性測試。具有如下特點:

l 根據(jù)不同比色皿,可以定制不同支架

l 可調電磁攪拌確保樣品均勻

l 工作于低溫條件,可用干氣體減少冷凝

l 通過熱交換充入氣體,以隔離外部空氣

l 無應變石英窗片用于隔離比色皿,更好地控制溫度,特別是對于短光程比色皿

l 用于激發(fā)光的90度端口可選,以實現(xiàn)熒光測試

LC 600 用于線性可選吸收測試的樣品池支架

LC 600Quantum Northwest的樣品池支架產品,具有線性可選的6位比色皿樣品架,應用于吸收測試。具有如下特點:

l 馬達驅動選擇6位樣品架

l 每一樣品架狹縫開口可選

l 可調電磁攪拌確保樣品均勻

l 工作于低溫條件,可用干氣體減少冷凝

溫度控制器


TC 125溫度控制器具有如下特點:

l 美國NIST校準標準

l 標準熱敏探頭監(jiān)控樣品溫度

l 可實現(xiàn)遠程控制

每個溫控樣品池支架均包括一個基于微計算機的溫度控制器。對于特殊樣品池支架進行增益設置,并且由NIST標準的溫度計進行校準。

對于單樣品池支架,比如TLC 40TLC 50FLASH 300CD 250,選擇TC 125溫度控制器。

對于雙樣品池支架,比如TLC 42,選擇TC225溫度控制器,以實現(xiàn)對兩個試管進行獨立控制。

對于四位旋轉樣品池支架,比如TURRET 400,選擇TC 425溫度控制器,該控制器前面板中有對應位置的控制按鈕。

對于線性可選六位樣品池支架,比如LC 600,選擇TC 125溫度控制器,并由外部控制軟件來實現(xiàn)樣品移動。

所有溫度控制器均提供外部溫度傳感探頭,以實現(xiàn)樣品溫度的監(jiān)控。溫度控制器可以與標準400系列和500系列的熱敏探頭。

溫度控制器可以通過USB通訊線與計算機相連。如果想要實現(xiàn)遠程控制,可以選配QNW系列控制選項。

產品選擇指導

l 溫度范圍

標準化產品的溫度控制范圍為-10 to +105 oC(±0.02 oC),特殊樣品池支架可以定制。低于-10 oC時,就需要通入干氣體已降低樣品池支架窗口的冷凝。如果需要更低的溫度,請來電詳細咨詢。

l 高溫操作

如果TLC 40或者TLC 50型號后面帶有/E標志,可用于高于105 oC的環(huán)境。此時,需要溫度控制器中特殊固件來實現(xiàn)樣品池支架底部熱敏組件的轉換。雖然不應該長期在高溫環(huán)境中使用,但是高至150 oC還是可能的。

l 外部串行控制

通過與電腦連接的串行通訊線可以對溫度控制器進行控制。除非特別說明,否則提供的是標準USB連接線。通過溫度控制器前面板中的控制按鈕,外部串行控制能夠實現(xiàn)文件說明功能,包括:作圖、溫度提升、腳注功能。當選配SER 2.2時,TC 125溫度控制器可以通過USB通訊線來實現(xiàn)計算機控制。SER 2.2組件包括Windows程序、QNW串行控制,主窗口如圖所示。在主窗口中,可以設置溫度、調整溫度、電磁攪拌控制,并且可以收集探頭和樣品池支架的溫度。

l BATH 100

BATH 100由潛水泵、塑料桶和配件組成,為樣品池支架提供循環(huán)水。當樣品溫度比較低時,需要循環(huán)水或其它液體進行冷卻。注意:BATH 100BATH 100/OS已經包含在VarianOcean Optics的樣品池支架中。

l 光學端口高度

所有樣品池支架的光學端口標準高度是(除了CD 2508.5mm。對于TLC 40TLC 42TLC 50或者TURRET 400樣品池支架,只需額外加點費用,可以將光學端口高度增至15mm。請來電詳細咨詢。

l 改裝光譜系統(tǒng)

所有的樣品池支架均可用于基本的測試系統(tǒng),并且任一樣品池支架,只需額外加點費用,均可實現(xiàn)與特定光譜儀器配套使用。光譜儀器典型的測試配件包括:

l 樣品池支架光學端口高度

l 光譜儀配套的基板尺寸和孔模式

l 其它:電插頭、適配器、水和氣體附件

目前,QUANTUM NORTHWEST公司有80多種改裝樣品池支架,請參考如下信息。并且,只需額外加點費用,QUANTUM NORTHWEST可以為特殊光譜儀測試系統(tǒng)提供定制服務。

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